探討示波器測(cè)量時(shí)間間隔影響因素
出處:computer00 發(fā)布于:2011-08-23 18:04:23
示波器是一種用途十分廣泛的電子測(cè)量?jī)x器。它能把肉眼看不見(jiàn)的電信號(hào)變換成看得見(jiàn)的圖象,便于人們研究各種電現(xiàn)象的變化過(guò)程。示波器利用狹窄的、由高速電子組成的電子束,打在涂有熒光物質(zhì)的屏面上,就可產(chǎn)生細(xì)小的光點(diǎn)。在被測(cè)信號(hào)的作用下,電子束就好像一支筆的筆尖,可以在屏面上描繪出被測(cè)信號(hào)的瞬時(shí)值的變化曲線。利用示波器能觀察各種不同信號(hào)幅度隨時(shí)間變化的波形曲線,還可以用它測(cè)試各種不同的電量,如電壓、電流、頻率、相位差、調(diào)幅度等等。
影響數(shù)字示波器時(shí)間測(cè)量不確定性的因素是:采樣間隔和測(cè)量間隔。
采樣間隔與示波器的測(cè)量?jī)?nèi)插算法和時(shí)基短期穩(wěn)定性有關(guān)。
測(cè)量間隔與示波器時(shí)基有關(guān)力科WaveMaster系列示波器的時(shí)間間隔測(cè)量采用下述公式表示:±((0.06 * 采樣間隔) +(1 ppm的測(cè)量間隔))。這一公式反映了數(shù)字示波器上時(shí)間測(cè)量不確定性的兩個(gè)主要來(lái)源。第二個(gè)部分(1 ppm的測(cè)量間隔)表示由于示波器時(shí)基導(dǎo)致的不確定性。WaveMaster系列示波器采用1 ppm的時(shí)基,這是當(dāng)前的示波器時(shí)基。這個(gè)部分影響著較長(zhǎng)的時(shí)間間隔。例如,如果測(cè)量的是1 GHz時(shí)鐘(1 ns周期),那么由于時(shí)基導(dǎo)致的不確定性是1 fs。
時(shí)間間隔的個(gè)部分(0.06 * 采樣間隔)與示波器的測(cè)量?jī)?nèi)插器和時(shí)基短期穩(wěn)定性有關(guān)。在力科示波器中,時(shí)基對(duì)不確定性的影響非常小。內(nèi)插器是測(cè)量信號(hào)越過(guò)一定門限值的時(shí)間位置的軟件組件。鑒于力科提供了20 GHz的采樣率,因此在大多數(shù)情況下必需使用內(nèi)插。在任何一定邊沿上存在三個(gè)或三個(gè)以下的樣點(diǎn)時(shí),示波器中會(huì)自動(dòng)執(zhí)行內(nèi)插。在整個(gè)波形上不執(zhí)行內(nèi)插。但是,在測(cè)量中只內(nèi)插越過(guò)門限周圍的點(diǎn)。為找到越過(guò)點(diǎn),我們使用立方內(nèi)插,然后線性擬合到內(nèi)插的數(shù)據(jù),如圖1所示。

圖1 測(cè)量?jī)?nèi)插的圖形視圖,顯示怎樣在采樣的波形上確定越過(guò)時(shí)間(TOC)
[ 圖示內(nèi)容:]
threshold: 門限
1. locate points bracketing threshold: 1. 定位越過(guò)門限的點(diǎn)
2. add new “cubicity” interpolated points: 增加新的”立方”內(nèi)插點(diǎn)
3. estimate TOC “l(fā)inearity”: 估算TOC“線性度”
內(nèi)插取決于許多因素。主要因素是信號(hào)的跳變時(shí)間、采樣率、垂直噪聲和有效垂直分辨率。圖2是通過(guò)使用簡(jiǎn)單的模型,利用8位數(shù)字化器以20 GS/s采樣率對(duì)300 ps邊沿信號(hào)的典型計(jì)算方式。信號(hào)幅度是全標(biāo)的80%。垂直分辨率和時(shí)間分辨率之間的關(guān)系是:Dt = Dv/ dv/dt其中:Dt – 時(shí)間不確定性,Dv – 幅度不確定性,dv/dt – 跳變沿 對(duì)1 l.s.b.(1/256的全標(biāo))的垂直不確定性,以及在6個(gè)樣點(diǎn)中0.8的全標(biāo)的跳變沿(300 ps @ 50 ps/樣點(diǎn)),等效時(shí)間不確定性為:
Dt = (1/256) / (0.8/6)= 0.03個(gè)采樣周期

圖2 簡(jiǎn)單的模型,表明垂直不確定性與定時(shí)不確定性的映射關(guān)系
[圖示內(nèi)容:]
Measurement Threshold: 測(cè)量門限
Sample: 樣點(diǎn)
由于采樣周期是50 ps,這一測(cè)量的不確定性是1.5 ps。這種時(shí)間不確定性適用于任何一項(xiàng)測(cè)量。在數(shù)據(jù)處理上,為了使采集到的數(shù)據(jù)能真實(shí)的反映地層的實(shí)際情況,采取合理的采樣間隔并對(duì)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)字濾波處理與平滑顯得非常重要。
大多數(shù)這類測(cè)量不是以孤立方式進(jìn)行的。多個(gè)測(cè)量允許用戶研究測(cè)得值變化。與所有測(cè)量中一樣,在多項(xiàng)測(cè)量中,測(cè)得值的中間值的不確定性會(huì)下降。對(duì)高斯分布,測(cè)量不確定性會(huì)以測(cè)量數(shù)量的平方根下降。因此,重復(fù)測(cè)量100次可以使采樣中間值的提高10倍。圖3顯示了在700 MHz方波上進(jìn)行20套period@ level參數(shù)測(cè)量的結(jié)果。每套測(cè)量都在包括35,000個(gè)周期的采集上執(zhí)行。這會(huì)把指定的不確定性降低到大約16 fs。測(cè)量與頻率計(jì)數(shù)器相關(guān),頻率計(jì)數(shù)器從同一個(gè)軸上繪制曲線。注意,示波器測(cè)量很好地位于歸一化后的指標(biāo)極限內(nèi),與計(jì)數(shù)器測(cè)量結(jié)果高度一致。下圖的水平標(biāo)度是每格20 fs。

圖3 在20次采集中進(jìn)行period @ level測(cè)量的可重復(fù)性
[圖示內(nèi)容:]
Accuracy of P@Level For 700 MHz Sqaurewave: 700 MHz方波的P@Level
Counter Reading: 計(jì)數(shù)器讀數(shù)
P@Level lower accuracy limit: P@Level下限
upper accuracy limit: 上限
Acquisition Number: 采集數(shù)量
Period (ns): 周期(ns)
使用采樣數(shù)據(jù)不會(huì)把定時(shí)測(cè)量限制在采樣周期中??梢砸云っ爰?jí)的分辨率在正確采樣的波形上進(jìn)行定時(shí)測(cè)量,并支持直到幾十飛秒的中間值統(tǒng)計(jì)。
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