IDC諫早電子開發(fā)出的漏電檢出機(jī)能IC「RT8H064C」 采用6PIN小型封裝實(shí)行產(chǎn)品的小型化
半導(dǎo)體生產(chǎn)商諫早電子(IDC)開發(fā)出漏電檢查用IC「RT8H064C」。 RT8H064C為實(shí)現(xiàn)了使用6PIN小型封裝SC-74作開發(fā)的漏電檢查機(jī)能產(chǎn)品。 可使用在漏電斷路器或漏電保護(hù)分接器等等。 本產(chǎn)品采用0.5波1發(fā)的計(jì)算方式...
分類:元器件應(yīng)用 時(shí)間:2023-02-10 閱讀:465 關(guān)鍵詞:諫早電子
IDC 諫早電子開發(fā)出的漏電檢出機(jī)能IC「RT8H064C」 采用6PIN小型封裝實(shí)行產(chǎn)品的小型化
半導(dǎo)體生產(chǎn)商諫早電子(IDC)開發(fā)出漏電檢查用IC「RT8H064C」。RT8H064C為實(shí)現(xiàn)了使用6PIN小型封裝SC-74作開發(fā)的漏電檢查機(jī)能產(chǎn)品??墒褂迷诼╇姅嗦菲骰蚵╇姳Wo(hù)分接器等等。本產(chǎn)品采用0.5波1發(fā)的計(jì)算方式, 可使用外置...
分類:元器件應(yīng)用 時(shí)間:2022-11-18 閱讀:393 關(guān)鍵詞:RT8H064C
- 高速PCB信號(hào)完整性(SI)設(shè)計(jì)核心實(shí)操規(guī)范
- 鎖相環(huán)(PLL)中的環(huán)路濾波器:參數(shù)計(jì)算與穩(wěn)定性分析
- MOSFET反向恢復(fù)特性對(duì)系統(tǒng)的影響
- 電源IC在惡劣環(huán)境中的防護(hù)設(shè)計(jì)
- 連接器耐腐蝕性能測(cè)試方法
- PCB電磁兼容(EMC)設(shè)計(jì)與干擾抑制核心實(shí)操規(guī)范
- 用于相位噪聲測(cè)量的低通濾波器設(shè)計(jì)與本振凈化技術(shù)
- MOSFET在高頻開關(guān)中的EMI問題
- 電源IC在便攜式設(shè)備中的設(shè)計(jì)要點(diǎn)
- 連接器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)常見問題分析









