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Onsemi -這款仿真工具,99%的電力電子設(shè)計(jì)工程師都需要

出處:維庫電子市場(chǎng)網(wǎng) 發(fā)布于:2024-05-29 16:13:36

  設(shè)計(jì)人員根據(jù)產(chǎn)品手冊(cè)中在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下測(cè)量出的器件特性(如導(dǎo)通損耗、能量損耗和熱阻等),構(gòu)建系統(tǒng)級(jí)模型,大多數(shù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)模型也都是如法炮制。然而,這些基于產(chǎn)品手冊(cè)的模型是實(shí)驗(yàn)室配置和環(huán)境的產(chǎn)物,并不總能反映實(shí)際中遇到的各種條件。
  因此,不可想當(dāng)然地認(rèn)為這些來自產(chǎn)品手冊(cè)的模型能夠準(zhǔn)確反映電力電子設(shè)計(jì)人員所面對(duì)的各種復(fù)雜寄生環(huán)境。事實(shí)上,制造商的實(shí)驗(yàn)環(huán)境與電力電子設(shè)計(jì)人員的應(yīng)用環(huán)境完全一致的概率接近于零。實(shí)驗(yàn)環(huán)境與應(yīng)用環(huán)境之間的明顯差異,可能導(dǎo)致實(shí)際應(yīng)用中的仿真結(jié)果出現(xiàn)重大誤差,誤差率往往高達(dá)20-30%甚至更高。要解決這個(gè)問題,就必須盡可能改進(jìn)當(dāng)前的做法。
  安森美(onsemi)的PLECS模型自助生成工具(SSPMG)具超強(qiáng)開創(chuàng)性,用戶可以在其中輸入特定的寄生環(huán)境,創(chuàng)建定制的PLECS模型。打個(gè)比方,現(xiàn)成的西裝不太可能完全合身,而SSPMG就像為您量身定做衣服的裁縫,可以根據(jù)具體應(yīng)用來準(zhǔn)確定制模型。

 

  圖1:Elite Power 仿真工具和PLECS模型自助生成工具
  視頻詳解安森美Elite Power仿真工具▼
  SSPMG方法背后的思路其實(shí)很簡(jiǎn)單。它關(guān)注的重點(diǎn)不是安森美在實(shí)驗(yàn)室測(cè)得的結(jié)果,而是您環(huán)境中的具體應(yīng)用。用戶可以根據(jù)其各自的環(huán)境對(duì)模型進(jìn)行微調(diào),進(jìn)而能夠顯著提高仿真的準(zhǔn)確性。這種對(duì)定制性和準(zhǔn)確性的重視不僅僅是一個(gè)理論概念,而是落實(shí)到了具體的解決方案上,能夠輸出切實(shí)可行的結(jié)果。業(yè)界紛紛意識(shí)到,通用模型存在明顯的局限性,而針對(duì)不同需求采用定制化仿真有著巨大潛力。
  安森美SSPMG仿真工具還支持用戶根據(jù)電氣偏壓和溫度條件定制數(shù)據(jù)密集的參數(shù)表。目標(biāo)是確保表內(nèi)數(shù)據(jù)點(diǎn)之間的插值準(zhǔn)確,并盡可能地減少外推需求,因?yàn)橥馔瞥3?huì)給系統(tǒng)仿真帶來誤差。

  

  圖2:SSPMG的特性之一:數(shù)據(jù)密集的損耗參數(shù)表
  安森美開發(fā)的SSPMG工具包含了代表電子產(chǎn)品不同制造條件的“邊界模型”。其中,閾值電壓、RDSon、擊穿電壓、電容等參數(shù),會(huì)因晶圓廠內(nèi)的物理特性不同而有所差異。這會(huì)顯著影響被測(cè)器件的能量損耗、導(dǎo)通損耗和溫度行為,因而捕獲這些相關(guān)的參數(shù)差異非常重要,尤其是在系統(tǒng)層面。
  為此,安森美引入了適用于硬開關(guān)和軟開關(guān)的PLECS模型,此外還可用于同步整流操作,并且僅針對(duì)主開關(guān)操作。PLECS工具可以仿真各種軟開關(guān)應(yīng)用,包括DC-DC LLC 和CLLC諧振、雙有源橋及相移全橋拓?fù)洹?br>   軟開關(guān)和硬開關(guān)
  在電力電子領(lǐng)域,明確區(qū)分軟開關(guān)和硬開關(guān)非常重要。對(duì)于硬開關(guān),可借助雙脈沖測(cè)試(DPT)來準(zhǔn)確計(jì)算損耗。但是軟開關(guān)的性能受拓?fù)浜凸ぷ髂J接绊戄^大,所以雙脈沖測(cè)試無法準(zhǔn)確計(jì)算其具體損耗。
  為了解決這個(gè)問題,SSPMG使用新型轉(zhuǎn)換損耗測(cè)試儀來準(zhǔn)確計(jì)算一系列拓?fù)涞哪芰繐p耗,包括相移全橋、DC-DC LLC 和CLLC諧振拓?fù)?。這種專為軟開關(guān)而設(shè)計(jì)的方法提升了常被業(yè)界忽視的軟開關(guān)模型精度。如此一來,工程師能夠獲得設(shè)計(jì)方案的準(zhǔn)確表示,從而避免不兼容仿真條件所引起的誤差。借助我們的集成功能,無論采用何種開關(guān)拓?fù)洌O(shè)計(jì)人員都能夠使用準(zhǔn)確的模型,進(jìn)而能夠確保仿真的精度。

  

  圖3:SSPMG的特性之一:軟開關(guān)仿真
  開關(guān)損耗測(cè)試
  DPT是測(cè)量半導(dǎo)體器件開關(guān)損耗的常用方法。該方法采用的特定步驟包括:首先,通過激活低邊開關(guān)來引起電感電流,然后測(cè)量低邊開關(guān)在某個(gè)電流點(diǎn)關(guān)斷時(shí)的關(guān)斷損耗。電感電流繼續(xù)由高邊二極管維持,由于壓降很低且持續(xù)時(shí)間短,所以可認(rèn)為電感電流保持恒定。,低邊開關(guān)再次導(dǎo)通,故可使用與關(guān)斷期間類似的電感電流來測(cè)量導(dǎo)通損耗。
  無論設(shè)置中采用的是半橋還是四分之一橋,都會(huì)影響開關(guān)損耗,這主要是因?yàn)镾iC肖特基二極管和MOSFET體二極管之間存在特性差異。這種配置稱為“升壓”型測(cè)試儀,會(huì)影響主開關(guān)損耗,因?yàn)楦哌呴_關(guān)/二極管中的反向恢復(fù)電流會(huì)影響導(dǎo)通時(shí)的低邊開關(guān)損耗。
  電感器的寄生電容和PCB漏感等外部因素會(huì)顯著影響有源開關(guān)損耗。電感器的寄生電容會(huì)影響Eon和Eoff,從而影響總體損耗。此外,PCB漏感和用于減輕EMI的鐵氧體磁珠等器件會(huì)改變開關(guān)環(huán)路的大小和性能,減慢電流爬坡并允許電壓達(dá)到較低電平,從而影響損耗。
  DPT雙脈沖測(cè)試儀可以有效測(cè)量損耗,甚至能為寄生元件影響非常小的電路提供高精度保障。雖然安森美的先進(jìn)雙脈沖測(cè)試儀可以出色地比較芯片尺寸和封裝等組合要素,但必須注意的是,測(cè)試環(huán)境下的損耗與實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景下的損耗可能并不一致。用戶具體采用的寄生元件會(huì)大大影響實(shí)際損耗,因此為每個(gè)設(shè)計(jì)定制新的設(shè)置是不切實(shí)際的。
  基于建模的仿真可以替代這種基于測(cè)量的資源密集、較為局限且復(fù)雜的方法。利用參數(shù)仿真和高度準(zhǔn)確的仿真模型(如安森美的物理可擴(kuò)展SPICE模型),電力電子設(shè)計(jì)人員能夠快速生成準(zhǔn)確的損耗模型。這些仿真支持在單次運(yùn)行中評(píng)估多個(gè)場(chǎng)景,與費(fèi)力的測(cè)量技術(shù)相比,可以更快速、更經(jīng)濟(jì)地提供有價(jià)值的信息。

  安森美的SSPMG包含30多個(gè)參數(shù),可以對(duì)雙脈沖或轉(zhuǎn)換損耗測(cè)試儀的仿真原理圖進(jìn)行微調(diào),進(jìn)而提取SiC MOSFET的分立和功率模塊損耗。這款功能全面的工具整合了多種應(yīng)用階段和場(chǎng)景,并支持修改柵極驅(qū)動(dòng)電壓,所以電力電子設(shè)計(jì)人員能夠針對(duì)特定應(yīng)用高效地生成高度準(zhǔn)確的PLECS損耗模型。

  圖4:雙脈沖測(cè)試儀基本原理圖
  研究-直流快速充電樁
  Elite Power 仿真工具和SSPMG擁有出色的功能,能夠顯著縮短產(chǎn)品開發(fā)周期,尤其適用于需要優(yōu)化設(shè)計(jì)時(shí)間線的領(lǐng)域,例如直流快速充電(DCFC)。25 kW直流快速充電是電動(dòng)汽車充電基礎(chǔ)設(shè)施的重要組成部分,其中的工具部署就是一個(gè)典型的例子。在此例中,仿真工具有效地促進(jìn)了代與第三代碳化硅半橋模塊的比較研究,準(zhǔn)確預(yù)測(cè)了二者的效率差異,與實(shí)驗(yàn)結(jié)果非常吻合。

  圖5:系統(tǒng)板:PFC + DC-DC 機(jī)械草圖
  安森美分析并比較了25kW直流快充的實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)與仿真結(jié)果。盡管仿真和實(shí)際測(cè)得的總模塊損耗之間存在微小偏差,但顯示出良好的相關(guān)性。SSPMG派生模型納入了布局寄生效應(yīng)和電機(jī)繞組電容等復(fù)雜細(xì)節(jié),可提高仿真結(jié)果的準(zhǔn)確度,從而幫助Elite Power 仿真工具提供更深入的分析。
  與SiC MOSFET 交織在一起的各種濾波器、放大器和柵極驅(qū)動(dòng)器構(gòu)成了充電樁的內(nèi)部架構(gòu)。通過利用不同的模塊和拓?fù)?,AC-DC有源轉(zhuǎn)換器和DC-DC轉(zhuǎn)換器之間錯(cuò)綜復(fù)雜的相互作用得以明晰,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)理想性能。評(píng)估顯示損耗曲線在±10%范圍內(nèi)波動(dòng),但仿真則給出了波動(dòng)幅度為±5%的復(fù)雜損耗曲線。
  考慮了寄生效應(yīng)的 SSPMG + Elite Power 仿真工具 = 精度 ±5 至 ±10%

  

  圖6:測(cè)量結(jié)果
  仿真和觀測(cè)數(shù)據(jù)之間的動(dòng)態(tài)交互關(guān)系表明,準(zhǔn)確的建模和詳盡的測(cè)量對(duì)于評(píng)估電力電子器件的性能至關(guān)重要。
關(guān)鍵詞:安森美

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