無線充電系統(tǒng)的線圈測試方案
出處:antaiceshi 發(fā)布于:2022-05-13 16:12:45
智能終端上不斷增加新功能,電池壽命成為用戶頭痛的問題之一。相比便攜式電源和電纜供電而言,無線充電技術(shù)因其方便性和多功能性獲得了很大的關(guān)注,從而成為市場解決方案之一。作為無線充電技術(shù)中一種的應(yīng)用,無線設(shè)備由于操作時(shí)間長,因而需要提供更好的充電性能。
本指南對Keysight E4980A/AL 精密 LCR 表如何表征無線充電系統(tǒng)中常用的組件——線圈進(jìn)行了說明。
無線充電系統(tǒng)的線圈
當(dāng)今在用的無線充電標(biāo)準(zhǔn)不只一種,但它們有一個(gè)共同的特點(diǎn),就是一般都采用線圈 ( 或基于線圈的共振器 ) 來產(chǎn)生電磁場,以及進(jìn)行能量傳輸。典型的無線充電系統(tǒng)由兩部分組成:發(fā)射單元和接收單元,功率和能量傳輸可以通過電感耦合,在發(fā)射機(jī)和接收機(jī)之間實(shí)現(xiàn)(圖 2)。通常情況下,發(fā)射線圈和驅(qū)動(dòng)電路安裝在充電座上,而接收線圈和相關(guān)電路則內(nèi)置于需要充電的裝置內(nèi),如智能電話等。功率傳輸效率是無線充電系統(tǒng)的關(guān)鍵指標(biāo)。這個(gè)指標(biāo)受許多因素影響,比如線圈之間的距離,電感寄生,線圈如何排列等。對單一的線圈而言,在大多數(shù)情況下,設(shè)計(jì)階段需要的損耗(低 DCR)和寄生(高 Q)。發(fā)射機(jī)和接收機(jī)線圈的典型測試參數(shù)為 Ls(串聯(lián)電感),Rs(串聯(lián)電阻)和 DCR(直流電阻)?;?WPC 標(biāo)準(zhǔn)的線圈測試頻率通常低于 1MHz。
E4980A/AL 精密 LCR 表是高達(dá) 2 MHz 的元器件的測量行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)解決方案。該儀表因其高度和可重復(fù)的測量、寬阻抗范圍和高測量速度而廣受元器件制造市場的青睞。
圖 2. 無線充電系統(tǒng)
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高精度的標(biāo)準(zhǔn) DCR 測量
發(fā)射機(jī)線圈和接收機(jī)線圈的 直流電阻會(huì)直接影響能量傳輸?shù)碾娮钃p耗,因此需要低 DCR(通常低到毫歐級(jí))來確保高功率傳輸效率。
DCR (直流電阻) 測量是E4980A/AL 精密 LCR 表的標(biāo)配功能。 E4980A/AL 能非常地測量低到毫歐級(jí)的 DCR 值。同時(shí), E4980A/AL 支持低接觸電阻夾具,如 16047E 和夾具補(bǔ)償功能。如果線圈的 DCR 是 100 毫歐,E4980A/AL 的 DCR 精度可達(dá) 5%,意味著真值在大約 95 毫歐到 105 毫歐之間。這種精度是非常高的,因?yàn)榛谧詣?dòng)平衡電橋法的LCR 表測量低 DCR 的難度很大。
寬阻抗范圍用于測量電感和穩(wěn)定的小 ESR
發(fā)射機(jī)和接收機(jī)線圈的電感通常在微亨 μH 范圍,測試在幾十千赫茲的頻率范圍內(nèi)進(jìn)行。因此,阻抗范圍從幾毫歐到幾歐。E4980A/AL LCR 表具有優(yōu)異的寬阻抗范圍性能,在 4 毫歐到 100 毫歐之間可保持 10% 以內(nèi) 的精度(圖 2),特別適合于無線充電系統(tǒng)線圈的測量。
電感的等效串聯(lián)電阻(ESR)也需小而穩(wěn)定,以滿足低功耗要求。 E4980A/AL 為 ESR 測量提供了出色的測量穩(wěn)定性(圖 3)。
頻率 赫茲

圖 2. 10% 阻抗測量精度范圍(測試信號(hào) 1Vrms,MED 模式,電纜 0 米)
圖 3. 低阻抗評(píng)估(E4980A, 1 毫歐 100K 赫茲 )
快速測量,提高產(chǎn)品良率
制造業(yè)主要關(guān)心的是提高產(chǎn)量,降低測試成本。E4980A/AL 具有快速測量功能,提高了設(shè)計(jì)和制造的測量效率。E4980A 的測量速度如下:
短(SHORT)模式下,1 兆赫茲每點(diǎn) 5.6 毫秒
中(MED)模式下,1 兆赫茲每點(diǎn) 88 毫秒
長(LONG)模式下,1 兆赫茲每點(diǎn) 220 毫秒
大量測試夾具滿足測試需求
E4980A/AL LCR表可搭配二十多種夾具,來滿足從材料到 SMD 元器件的各種評(píng)估需求。16047 系列引線式夾具是測量低 DCR 和 ESR 引線式線圈的夾具。此外,E4980A/AL 內(nèi)置的補(bǔ)償功能限度地減少了測試夾具的影響。
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