浪涌測試中通訊端口防護器件的損壞分析
出處:面包板 發(fā)布于:2021-04-21 14:49:13
1. 引言
獨學而無友,則孤陋而寡聞。 本文以SURGE測試中通訊端口防護器件損壞為例,進行損壞機理分析、不同測試方法帶來的影響分析、不同應用場景的測試方法選擇,以及SURGE防護設計中的注意點等內容進行分析說明。
2. 背景介紹
某機車控制器的通訊端口進行±1KV等級的SURGE測試,出現(xiàn)通訊端口防護器件TVS管損壞情況。
3. 系統(tǒng)組網
組網:某機車控制器(EUT),通過CAN通訊線與AE設備連接,互連線長度10m; 測試端口:CAN端口,±1KV,阻抗42Ω; 端口防護說明:EUT側CAN端口TVS管防護
①;AE側CAN端口TVS管防護
②;EUT側15V電源對地跨接電容C和TVS管
③;AE側對地無跨接防護
④; 端口注入方法:斷開與AE相連的CAN-H和CAN-L,但A-GND保持與AE設備相連。 接地說明:CAN參考地為A-GND,AE設備的通訊參考與電源的參考地為A-GND,AE由EUT的DC15V供電,DC15V的參考地為P-GND。測試組網如圖1所示。

圖1 組網圖 實驗現(xiàn)象:在多次SURGE測試中發(fā)現(xiàn), EUT端口TVS管被打壞,但并不是每次試驗都能復現(xiàn),試驗次數(shù)越多,越容易復現(xiàn)。
4. TVS管損壞的機理分析
4.1 SURGE干擾的路徑分析
CAN電路的參考地為A-GND,AE設備的電源參考地為A-GND ,EUT的15V電源地為P-GND,因EUT的DC15V給AE進行供電,使得A-GND與P-GND進行了互連,且P-GND對PE有跨接TVS管和電容,使得SURGE噪聲沿著低阻抗路徑流到大地。 SURGE噪聲干擾路徑:SURGE發(fā)生器→CDN的Zin→通訊TVS1管→通訊線地線Zline→電源地線Zline→對PE跨接電容C1和TVS3管→PE,如下圖2所示。
圖2 SURGE噪聲回路示意圖 4.2 SURGE噪聲頻譜分析 4.2.1 SURGE的波形 根據(jù)IEC 61000-4-5 2019標準中SURGE的典型開路電壓波形參數(shù)為1.2/50us。
參見圖3所示:
圖3 SURGE發(fā)生器開路電壓波形
4.2.2 SURGE的頻譜特性分析
IEC 61000-4-5中描述SURGE的BW帶寬是指頻域波形的下降沿斜率開始達到-60dB/十倍頻程時的頻率帶寬。SURGE電壓波形波前時間短,包含的頻帶較寬,SURGE的BW達到了2MHz,但主要能量集中在頻率較低的頻段,幅值頻譜分析表明SURGE呈現(xiàn)低頻特征(50KHz→-40dB),參見圖4所示。
圖4 Voltage surge (1,2/50 ?s): spectral response with ?f = 3,333 kHz 4.3 TVS 管損壞分析
4.3.1 TVS管損壞模式
TVS管損壞模式有兩種:
(1)單次能量超過額定功率 TVS的標稱功率是極短時間內對 TVS 施加的單次脈沖能量,施加的噪聲波形能量大于額定功率時,會導致TVS管過流燒毀,呈現(xiàn)短路失效模式。
(2)積累的能量超過上限值 實際測試中施加的噪聲波形通常是重復地出現(xiàn),使得短時間積累的能量超過上限值,TVS管就會損壞,呈現(xiàn)短路失效模式。
4.3.2 TVS管中的SURGE電流分析
(1)TVS管參數(shù)對比 TVS1和TVS2管型號均為PESD1CAN,其Ipp為3A,20uf脈沖功率為200W,50us脈寬功率約為130W;TVS3管的型號為SD05C,其Ipp為24A,20uf脈沖功率為350W,50us的脈沖脈寬功率約為210W。TVS3的功率和通流能力優(yōu)于TVS1。TVS參數(shù)表參見表1。
表1 TVS規(guī)格參數(shù)表
(2)噪聲回路參數(shù) 根據(jù)圖3的路徑分析及表1參數(shù)表,可計算出回路阻抗參數(shù)參見下表2。
表2 回路阻抗參數(shù)
符號參數(shù)線路阻抗 (在TVS1管 3A下進行計算)含義
Zin42Ω2Ω差模+40Ω共模信號線注入阻抗
Zline3.1ΩZline=10m*1uH/m*2π*50KHz=3.1Ω線路阻抗1uH/m
Zc132ΩZc1=1/(2π*50KHz*0.1uf=31.8Ω對地跨接電容C1,噪聲頻率50KHz
ZTVS123.3ΩZTVS1=70V/3A=23.3Ω,型號PESD1CAN(NXP)CAN電路保護TVS管
ZTVS32.7ΩZTVS3=8V/3A=2.7Ω,型號SD05C對地跨接TVS
(3) 回路SURGE電流計算: 在TVS1管 3A阻抗條件下計算分析: Isurge=Vsurge/(Zin +ZTVS1// ZTVS1+2*Zline+Zc1//ZTVS3)=16A 在TVS1管短路失效條件下計算: Isurge= Vsurge/(Zin +2*Zline+Zc1//ZTVS3)=19.7A SURGE噪聲在回路中的電流范圍在16A~19.7A之間,流過CAN-H和CAN-L的TVS管電流各為8A-9.85A左右,超過了TVS1的 Ipp(3A),但小于TVS3的Ipp(24A)。從計算分析可知,TVS1承受超額SURGE電流,有較大的損壞風險。
4.4 實驗驗證
4.4.1 TVS管阻抗測定
用萬用表對TVS1和 TVS 3管進行實驗前后的阻抗測定,參見表3。 在多次實驗后,TVS1管的阻抗越來越小, 終失效短路。
表3 TVS管阻抗測定
TVS1TVS3
試驗次數(shù)阻抗值試驗次數(shù)阻抗值
實驗前開路實驗前開路
SURGE實驗65Ω SURGE實驗開路
二次SURGE實驗16Ω二次SURGE實驗開路
三次SURGE實驗0.1Ω三次SURGE實驗開路
4.4.2 SURGE實驗波形抓取
SURGE實測噪聲回路電流峰值19.2A,脈寬55.3us,CAN-H和CAN-L的TVS1管個分流9.6A,與理論計算相匹配,驗證分析的準確性。實測波形參見圖5。
圖5 回路噪聲電流
4.5 TVS管損壞的機理分析小結
(1)15V參考地P-GND與CAN的參考地A-GND連接到一起,使得SURGE噪聲可以通過P-GND的對地跨接流到大地;
(2)SURGE的噪聲帶寬可達到2MHz,但一般能量集中在低頻段50KHz左右;
(3)TVS管損損壞模式有兩種,超額定或多次能量疊加導致的短路損壞,本文為典型超額定而導致的RVS管損壞。
(4)噪聲回路的SURGE電流理論計算與實測相對應,結合理論計算可幫助產品在前期理論模型階段的防護器件設計選型。
5. 從產品端解決方案分析
綜合以上分析,從產品端解決CAN通訊口TVS管損壞問題,就是要改變噪聲回路阻抗分布。方法有三種,參見表4。
表4 整改設計方法分析表
整改設計方法可落地措施備注
◆提高TVS管的耐流能力將TVS1管替換成TVS3結電容變大17pf→350pf,會影響通訊信號質量
◆提高P-GND與PE的阻抗◆去掉對地跨接TVS管 ◆將TVS管變?yōu)?MΩ電阻地電位差防護變差
◆噪聲回路的線路去耦線路地線去耦改變通訊地阻抗,有共地阻抗風險
6. 從測試端解決方案分析 SURGE測試不同實驗方法如下表5所示。 表5不同的測試方法
業(yè)界對CAN、485、232等通訊電路是否為平衡線對有不同的看法,導致使用不同的CDN,產生不同的測試結果。
(1) 對稱線的定義: 差模到共模轉換損耗大于20DB的平衡對線,一般由芯片廠家確定。
(2) CND非對稱注入: A-GND進行了去耦,老板標準中為20mH,50KHz阻抗為6.28KΩ,回路SURGE電流為約0.3A,TVS管正常工作。
(3) CND對稱注入 標準中沒有對A-GND是否連接進行說明,然而一般A-GND實驗時時默認連接的,只對對稱線線進行注入實驗。 ◆A-GND不接:SURGE回路噪聲電流為0.15A左右。 ◆A-GND接:與初始測試結果一直,無改善。
(4) 組網CAN端口直接注入 通過組網連接,使得AE設備對SURGE噪聲電流分流,但每個TVS管子電流約為4.8A,超過 Ipp,存在損壞風險。 綜上對測試方法的說明,解決方案有二: ◆不接A-GND,進行CDN注入; ◆按照非對稱進行注入;
7. 不同測試方法的應用分析
各企業(yè)在SURGE的非屏蔽通訊端口測試中,以IEC61000-4-5為基礎,進行了各自的適應性測試方法改善。主要有三種方式,參見表6所示。
表6 SURGE 非屏蔽通訊端口測試方法
EMC測試要結合產品的實際應用場景,來定制適合的測試方法,才能真正的在設計端規(guī)避產品的使用風險,三種測試方法的應用場景如下:
① 利用CDN的共模阻抗,進行非組網的通訊端口注入測試 主要應用在低要求場合,只要防護器件不損壞就可以,如二次供水。
② 利用CDN的共模阻抗,進行組網的通訊端口注入測試 主要應用在高要求,考量系統(tǒng)對SURGE的抗擾性,而非單體產品本身,要求通訊不能出錯,如生產線。
③ 按照標準推薦,將CDN串入通訊線中進行測試 將EUT與AE進行隔離,主要為 測試的應用。
8. 思考與啟示
(1) TVS管損壞原因為噪聲回路阻抗過低,使得SURGE電流過大,TVS管超限值而損壞,可以選用功率大而結電容相對較小的TVS管;
(2) 增大對PE的阻抗,可以去掉跨接TVS管,或減小跨接電容,或串跨接電阻等方法,提升阻抗值,使得SURGE電壓大部分加在跨接阻抗上;
(3) 產品設計要進行噪聲路徑分析和SURGE電流估算,指導阻抗分配與器件的選型。 需要結合產品的實際應用場景,來選擇測試方法,不要完全照搬標準要求,而缺乏系統(tǒng)化分析。
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