惠瑞捷推出面向消費電子芯片的混合信號測試解決方案
出處：ps2 發(fā)布于：2008-06-02 10:32:39
半導體測試公司惠瑞捷半導體科技有限公司(Verigy Ltd.)的V93000測試系統(tǒng)推出消費類電子產品的混合信號測試解決方案，可針對各種高集成度的消費性電子產品組件，進行晶圓測試(Wafer Sort)及終程測試(Final Test)。半導體設計公司及大量生產制造商經(jīng)常不得不在性能要求的廣度和有效又經(jīng)濟的測試需求之間努力尋求平衡，尤其是在設計和生產對價格很敏感的消費性電子產品內的混合信號組件時，常見于ODD(光驅)、DVD、DTV(數(shù)字電視)及STB(機頂盒)等應用中的。這些組件的集成度越來越高，甚至內建了ePMIC(嵌入式電源管理IC)和嵌入式閃存組件。消費性電子產品的混合信號測試解決方案可通過的測試方法，確保的準確度和測試質量，在進行高集成度組件的晶圓測試和終程測試時，可提供高速的單點(Single-site)和多點(Multi-site)測試能力。
可插入惠瑞捷V93000測試頭使用的單槽模塊卡每平方公分包含的功能有助于縮小測試系統(tǒng)的體積和降低成本。消費性電子產品的混合信號測試解決方案包含下列模塊卡：
MB AV8(Multi-Band Audio-Video，新一代的模擬式多頻段影音標準)模塊卡——不論數(shù)或性能等級皆可擴充，相當經(jīng)濟、彈性，在各種不同應用中的適用性非常高，包括音響；基頻IQ；寬帶通訊；高畫質及標準畫質的電視、機頂盒、數(shù)字電視和DVD(BluRay及HD-DVD)等。
Pin Scale 400——測試管腳可擴充，以滿足大部分消費性IC和晶圓測試的需求，以及適用于更多種消費類IC的接口。入門版的速度為100 Mbps，可升級至每測試通道533+ Mbps和224M的向量存儲空間。
DC Scale VI32——只需單一片模塊卡，即可彈性地應對多種應用(嵌入式閃存組件、嵌入式電源管理IC、提供的參考電壓)的需求。量測通道數(shù)可由16個擴充到32個，而且每個通道都具有測試碼(Pattern)觸發(fā)能力，可提供快的測試速度。
DC Scale DPS32——每片模塊卡內建32個測量通道，具有更多組件的測試能力，涵蓋更多個電源域(Power Domain)，且能進行快速的同步觸發(fā)，以提高穩(wěn)定一致性和提供快的測量速度。
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