由集成運放構(gòu)成的方波和三角波發(fā)生器
出處：aijia 發(fā)布于：2008-12-08 14:15:16
如圖1所示為由集成運放構(gòu)成的方波和三角波發(fā)生器電路，如圖2所示為由集成運放構(gòu)成的方波和三角波發(fā)生器的輸出波形圖。
在圖1所示的電路中，級A1組成遲滯電壓比較器，輸出電壓uo1為對稱的方波信號。第二級A2組成積分器，輸出電壓u。為三角波信號。
(1)
下面簡述此方波、三角波發(fā)生器電路的工作原理。
設(shè)穩(wěn)壓管的穩(wěn)壓值為Uz，則電壓比較器輸出的高電平為+Uz，低電平為－Uz，由圖1可得，A1同相端的電壓為
由于此電壓比較器的u=0，令u＋＝0，則可求得電壓比較器翻轉(zhuǎn)時的上、下門限電位分別為
比較器輸出±Uz經(jīng)電位器RP分壓后，加到積分器的反相輸人端。設(shè)分壓系數(shù)為n，則積分器輸入電壓為±nUz，反相積分器的輸出電壓為
由以分析可知，改變Uz可改變輸由電壓u01,U0 的幅度 ： 改變R1/R2的比值，可改方波、三角波的周期或頻率，同時影響三角波輸出電壓的幅度，但不影響方波輸出電壓的幅度；改變而和R．C，可改變頻率，而不影響輸出電壓的幅度。
歡迎轉(zhuǎn)載，信息來自維庫電子市場網(wǎng)（www.hbjingang.com）
版權(quán)與免責(zé)聲明
凡本網(wǎng)注明“出處：維庫電子市場網(wǎng)”的所有作品，版權(quán)均屬于維庫電子市場網(wǎng)，轉(zhuǎn)載請必須注明維庫電子市場網(wǎng)，http://www.hbjingang.com，違反者本網(wǎng)將追究相關(guān)法律責(zé)任。
本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其它出處的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點或證實其內(nèi)容的真實性，不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時，必須保留本網(wǎng)注明的作品出處，并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題，請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系，否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
- 頻譜儀精準(zhǔn) TOI 測量的設(shè)置優(yōu)化2025/9/5 16:39:30
- SiPM 測試板偏置電壓源的選擇與考量2025/9/2 15:54:57
- EMC的測試方法有幾種常見2025/8/28 17:25:45
- FCBAG封裝集成電路在失效分析中常用的檢測設(shè)備與技術(shù)2025/8/27 17:03:25
- 高端精密裝備精度測量的核心理論與實用方法2025/8/27 16:31:27
- 高速PCB信號完整性（SI）設(shè)計核心實操規(guī)范
- 鎖相環(huán)（PLL）中的環(huán)路濾波器：參數(shù)計算與穩(wěn)定性分析
- MOSFET反向恢復(fù)特性對系統(tǒng)的影響
- 電源IC在惡劣環(huán)境中的防護設(shè)計
- 連接器耐腐蝕性能測試方法
- PCB電磁兼容（EMC）設(shè)計與干擾抑制核心實操規(guī)范
- 用于相位噪聲測量的低通濾波器設(shè)計與本振凈化技術(shù)
- MOSFET在高頻開關(guān)中的EMI問題
- 電源IC在便攜式設(shè)備中的設(shè)計要點
- 連接器結(jié)構(gòu)設(shè)計常見問題分析
