智能卡的差錯(cuò)校正
出處:TCL 發(fā)布于:2008-11-20 16:37:42
人們不僅要檢測(cè)出存儲(chǔ)區(qū)中的差錯(cuò),還應(yīng)改正它們,于是就出現(xiàn)了差錯(cuò)校正碼,如圖1所示。由于用編程來(lái)計(jì)算這些編碼差錯(cuò)的花費(fèi)很大,且僅能用來(lái)糾正低差錯(cuò)率的編碼,再用它來(lái)保護(hù)智能卡存儲(chǔ)器就更成問(wèn)題了。而智能卡中的EEPROM存儲(chǔ)器是面向頁(yè)面的,整個(gè)頁(yè)面常常會(huì)由于一個(gè)差錯(cuò)而失效,只有能糾正成簇的差錯(cuò)方法才有意義。于是,就產(chǎn)生了新的差錯(cuò)校正技術(shù)。

圖1 差錯(cuò)校正碼的基本應(yīng)用原理
簡(jiǎn)單的技術(shù)方案是多重存儲(chǔ)數(shù)據(jù),物理上分開(kāi)存儲(chǔ)頁(yè)面并在讀出數(shù)據(jù)時(shí)采用多數(shù)表決法。通常用三重存儲(chǔ),采用3中取2表決。這種方法使占較少內(nèi)存用量的變型是存儲(chǔ)在兩個(gè)位置上,對(duì)每個(gè)位置都采用EDC校驗(yàn)和保護(hù),檢驗(yàn)兩個(gè)EDC值可以檢測(cè)出一個(gè)存儲(chǔ)器差錯(cuò)。這樣也可以識(shí)別出差錯(cuò)發(fā)生的存儲(chǔ)段。沒(méi)有檢測(cè)出差錯(cuò)的存儲(chǔ)段必定含有有效數(shù)據(jù),它可用來(lái)恢復(fù)故障的存儲(chǔ)段。
當(dāng)然,使用差錯(cuò)校正法顯然需要額外的存儲(chǔ)量,但對(duì)少量的數(shù)據(jù)而言,它仍在可接受的限度之內(nèi)。主要的好處是不需要用復(fù)雜的編碼量大的算法來(lái)計(jì)算數(shù)據(jù)。
作為多重?cái)?shù)據(jù)存儲(chǔ)保護(hù)方案的變型,可以采用諸如肫ed Solomon算法的差錯(cuò)校正算法。它特別適合于成簇的差錯(cuò),就像在智能卡中由于頁(yè)面失效所發(fā)生的情形。用匯編語(yǔ)言編程時(shí),算法要占用數(shù)百字節(jié)的代碼空間,而ECC數(shù)據(jù)的大小主要取決于那些必須檢測(cè)出與/或正確校正的差錯(cuò)概率。
然而,關(guān)于差錯(cuò)校正法在智能卡中應(yīng)用的幾個(gè)基本注意點(diǎn)必須說(shuō)明。乍一看,用這些方法去消除發(fā)生在EEPROM中的差錯(cuò)很有吸引力。然而,這個(gè)數(shù)據(jù)安全性是以大量的嚴(yán)重缺點(diǎn)為代價(jià)來(lái)?yè)Q取的。首先,數(shù)據(jù)寫人存儲(chǔ)器,因?yàn)樗鼈儽仨毚鎯?chǔ)在多個(gè)位置,不僅占用大量的存儲(chǔ)空間所需的時(shí)間也明顯增大了。另外,校正基于頁(yè)面EEPROM所發(fā)生的典型大小的成簇差錯(cuò)的算法是復(fù)雜的,并且還需要給出使用EDO代碼的巨大存儲(chǔ)空間。然而,基本的缺點(diǎn)甚至是更為嚴(yán)重的,即采用差錯(cuò)校正算法時(shí),因?yàn)樗惴ㄖ荒茉诙酁槟硵?shù)量級(jí)的差錯(cuò)時(shí)才能正確工作,不能排除有可能在校正數(shù)據(jù)中產(chǎn)生差錯(cuò)。如果操作系統(tǒng)能自動(dòng)校正了存儲(chǔ)器中的差錯(cuò),原則上并不能斷定已進(jìn)行了校正。
例如,假定自動(dòng)差錯(cuò)校正被用于電子錢包的余額,系統(tǒng)運(yùn)營(yíng)者將永遠(yuǎn)不會(huì)對(duì)發(fā)生些什么情況有把握。余額可能被正確地校正了,也存在著一定的概率使校正后的余額過(guò)高或過(guò)低。在這種情況下,必須要記住智能卡是大量生產(chǎn)的商品,當(dāng)有故障時(shí)直接更換就可以了。
當(dāng)數(shù)據(jù)內(nèi)容發(fā)生問(wèn)題時(shí),一個(gè)允許人們干涉的高水平系統(tǒng)必須決定要怎么做。例如,在智能卡錢包第1次出現(xiàn)差錯(cuò)時(shí),應(yīng)確信持卡人的余額是人工再存人的。如果錯(cuò)誤一再地重復(fù)出現(xiàn),因?yàn)檫@里存在著EEPROM已經(jīng)受到了欺詐性的操縱的可能性,這是不能在卡中由差錯(cuò)校正碼處理的,相反,必須由系統(tǒng)管理者干涉。
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