雖然掃描測試數據可以為診斷提供起點，但是隔離故障位置并識別缺陷類型卻極為困難。明導資訊(Mentor GraphICs)公司發(fā)布的YieldAssist診斷工具希望能夠簡化這一過程。

IC故障分析所從事的工作很值得同情。雖然掃描測試數據可以為診斷提供起點，但是隔離故障位置并識別缺陷類型卻極為困難。明導資訊(Mentor Graphics)公司發(fā)布的YieldAssist診斷工具希望能夠簡化這一過程。

在從制造測試中獲取門級網表、測試模式集以及故障文件后，YieldAssist就能做出對可疑缺陷類型的識別和分類。用戶可以使用明導公司的Calibre結果視圖環(huán)境(RVE)，來觀察芯片版圖中存在的缺陷。明導宣稱，通過將更好的設計規(guī)則過濾反饋回IC設計環(huán)境，有可能提高終的良品率。

“在制造測試中，每天可能發(fā)生數以千計的故障。過去，人們僅僅將這些故障記錄在案，然后隨手丟棄。”明導測試部門的營銷總監(jiān)Greg Aldrich說，“但是現在，你可以使用掃描測試數據很容易地實現以提高良品率為目的的診斷過程?！?

Aldrich表示，YieldAssist的目標市場是晶圓廠或IDM內部的故障分析部門。這些部門負責正確識別故障機制，并創(chuàng)建今后用來檢測故障的附加測試。他們對缺陷類型的發(fā)現也可以用來提高良品率。

Aldrich引用了一位客戶的例子進行說明。在這個例子中，所發(fā)現的故障中有30%是由相同機制引起的，即運行在寬金屬線上的信號間的橋接。引起該問題的原因歸結于化學機械打磨工藝。該客戶創(chuàng)建了一個“硬性”的設計規(guī)則，來避免今后再發(fā)生類似的橋接缺陷。

此外，Aldrich指出，“非可視”缺陷的數量正在不斷增加?！氨砻嫔现皇前l(fā)生了電氣故障，但是通過在線檢查等手段卻越來越難以進行診斷。”他說。

除了橋接缺陷外，YieldAssist還能夠發(fā)現開路故障、粘著在1和粘著在0的短路、以及與延時相關的缺陷。YieldAssist還可以發(fā)現雙路橋接和三路橋接。

YieldAssist使用的測試模式數據來自明導的FastScan或Testkompress自動測試模式生成(ATPG)工具。目前它還不能與其它供應商的ATPG工具配合使用。Aldrich表示，明導至今還沒有決定今后是否需要支持其它的ATPG工具。YieldAssist本身并不要求運行Calibre，但是如果需要瀏覽版圖中的缺陷，就必須使用Calibre。

在獲取網表、測試模式集和故障文件后，YieldAssist首先會進行模式一致性檢查，以確保測試模式與設計相匹配；之后，執(zhí)行故障文件一致性檢查，以確保故障文件與測試模式和設計相匹配。

接下來，YieldAssist會將故障映射到可疑的分類，如開路、短路或橋接。然后，它為每個可疑故障進行分類，并算出一個得分，以此標明可疑行為與被觀察故障的匹配程度。YieldAssist會缺陷信息、引腳路徑、邏輯引腳名稱和網絡名稱。

Aldrich指出，如果用戶使用Calibre RVE，就能瀏覽到信號重疊的具體位置，并能夠發(fā)現可能的橋接。YieldAssist還可以診斷掃描鏈故障和缺陷。

據Aldrich透露，YieldAssist工具是在明導內部開發(fā)而成，其中很大一部分基于原本為TestKompress ATPG壓縮產品所做的工作?！爱敃r我們做壓縮的目的之一，就是確保我們能夠診斷來自于壓縮模式中的錯誤?！彼f，“我們認為，今后我們將會需要使用來自制造的測試數據來幫助提高良品率?！?

YieldAssist現在已經開始出售，年使用費的起價為126,000美元。該產品已經取得臺積電的認可。

作者: 葛立偉