美國國家儀器公司（NI）推出的PCI版本的PXI-5922可變分辨率數(shù)字化儀（也稱為基于PC的示波器）可以實現(xiàn)較大動態(tài)范圍的測量。PXI-5922數(shù)字化儀提供目前市場上數(shù)字化儀產(chǎn)品中的動態(tài)范圍，這一具有無與倫比動態(tài)性能和靈活性的通用儀器現(xiàn)在正式推出PCI版本，適用于包括通訊、半導(dǎo)體、生化以及超音速非破壞性測試(ultrasonic nondestructive test，NDT)的許多領(lǐng)域。

　　不同于傳統(tǒng)示波器或其他基于PC的數(shù)字化儀在所有采樣率上具有固定的分辨率，NI 5922數(shù)字化儀使用NI Flex II ADC技術(shù)，具有靈活的、用戶自定義的分辨率，并可在24位（500 kS/s）到16位（15 MS/s）之間任何一點進(jìn)行采樣。NI Flex II ADC是一個加強(qiáng)的多位delta-sigma轉(zhuǎn)換器，它結(jié)合了技術(shù)，極大地降低了由多位轉(zhuǎn)換器中非線性造成的諧波，因此即便在高采樣率的情況下也可以獲得很好的動態(tài)范圍，可以幫助設(shè)計和測試工程師們直接數(shù)字化底層信號，而無需外部信號調(diào)理（例如濾波器和低噪聲放大器）。減少信號調(diào)理可以改進(jìn)測量和可靠性，同時還能節(jié)省測試系統(tǒng)的開發(fā)時間和成本。由于這項技術(shù)的應(yīng)用，PXI-5922可變分辨率數(shù)字化儀已經(jīng)獲得了多個國際獎項，包括《Test & Measurement World》雜志的2006年度測試類產(chǎn)品，以及《EDN》雜志2005年度熱門百佳產(chǎn)品獎。

　　工程師們借助使用PXI-5922數(shù)字化儀，已經(jīng)解決了許多要求很高的應(yīng)用，例如高端音頻和超聲波測試、高分辨率數(shù)－模轉(zhuǎn)換器的特性描述，以及基帶I/Q分析等。舉例來看，Analog Devices公司使用NI PXI-5922數(shù)字化儀來為他們高分辨率的數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器(DAC)確定穩(wěn)定時間。

　　和其他NI數(shù)字化儀一樣，工程師們可以使用這一全新的可變分辨率數(shù)字化儀，任意波形發(fā)生器和數(shù)字波形發(fā)生器/分析儀在產(chǎn)品開發(fā)的任何一個階段（從設(shè)計驗證到生產(chǎn)測試）創(chuàng)建混合信號應(yīng)用。設(shè)計和測試工程師們可以使用NI數(shù)字化儀，例如NI 5124 200 MS/s 12位數(shù)字化儀、NI 5122 100 MS/s 14位數(shù)字化儀以及NI PXI-5114 250 MS/s 8位數(shù)字化儀等，配合50多個內(nèi)置于NI-SCOPE驅(qū)動軟件的測量例程快速開發(fā)測量系統(tǒng)。所有的NI數(shù)字化儀都配備有該驅(qū)動軟件，并可與NI LabVIEW圖形化開發(fā)環(huán)境、NI SignalExpress交互式測量軟件、用于Microsoft Visual Studio .NET的NI Measurement Studio和NI LabWindows/CVI ANSI C開發(fā)環(huán)境協(xié)同工作。