吉時(shí)利儀器公司(Keithley)，宣布為其4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)新增一套C-V測量功能—4200-CVU。 4200-CVU能以測量模塊的形式插入4200-SCS的任意可用儀器插槽中，能在10KHz到10MHz的頻率范圍內(nèi)快速而方便地測量飛法(fF)和納法(nF)級(jí)電容。在4200-CVU的創(chuàng)新設(shè)計(jì)中采用了先進(jìn)的高性能電路，有8項(xiàng)正在申請(qǐng)中。該設(shè)備具有直觀的點(diǎn)擊式配置界面，線纜連接簡單，內(nèi)置的元件模型能夠使用戶直接獲得有效的C-V測量結(jié)果。無論用戶是否具有相關(guān)測量經(jīng)驗(yàn)，都能使用該儀器實(shí)現(xiàn)級(jí)的C-V測量。
    
    4200-CVU附帶完整的測試庫，極大提高了測量效率。如果與吉時(shí)利4200-LS-LC-12結(jié)合使用將實(shí)現(xiàn)更高測量效率。 4200-LS-LC-12是帶有電纜和適配器的專用開關(guān)矩陣卡，通過單針探測能實(shí)現(xiàn)高度集成的C-V/I-V測試。4200-PROBER-KIT為可選模塊，使用該模塊能輕松將4200-SCS與各種廣泛使用的探頭相連，終幫助用戶如I-V測試一樣輕松配置和執(zhí)行功能全面的C-V測試。
    
    吉時(shí)利公司4200-SCS支持利用各種第三方測試設(shè)備進(jìn)行C-V/I-V/脈沖測試的測試方法。這些特點(diǎn)使得4200-SCS/CVU非常適合于：半導(dǎo)體技術(shù)研發(fā) 、工藝研發(fā)和可靠性研究實(shí)驗(yàn)室；材料與器件研究實(shí)驗(yàn)室和機(jī)構(gòu)；需要臺(tái)式DC或脈沖測試設(shè)備的實(shí)驗(yàn)室；需要體積小而功能多、儀器多的非實(shí)驗(yàn)室與用戶。
    
    吉時(shí)利對(duì)4200-SCS用戶提供持續(xù)軟硬件升級(jí)服務(wù)，這意味著4200-CVU模塊及其所有相關(guān)軟件和可選硬件都能夠兼容早期的4200-SCS系統(tǒng)。由此，用戶完全無須因?yàn)樵O(shè)備或材料技術(shù)的更新而頻繁購買新的參數(shù)化分析儀。通過低成本升級(jí)，4200-SCS系統(tǒng)能夠滿足技術(shù)進(jìn)步帶來的測試需求。