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B150 1.0A SURFACE MOUNT SCHOTTKY BARRIER ... DIODES B150PDF下載
B150 1 AMP SURFACE MOUNT SCHOTTKY BARRIER... FUJI B150PDF下載
B150 1.0A SURFACE MOUNT SCHOTTKY BARRIER ... DIODES [Diodes Incorporated] B150PDF下載
B150 1 AMP SURFACE MOUNT SCHOTTKY BARRIER... FUJI [Fuji Electric] B150PDF下載
B1506 FAST RECOVERY SILICON HIGH VOLTAGE R... Edal Industries, Inc. B1506PDF下載
B150A MDD B150APDF下載
B150B 1.0A SURFACE MOUNT SCHOTTKY BARRIER ... DIODES B150BPDF下載
B150B 1.0A SURFACE MOUNT SCHOTTKY BARRIER ... DIODES [Diodes Incorporated] B150BPDF下載
B1500RU Ultra-Wide Input 15W Single & Dual O... MPD [MicroPower Direct, LLC] B1500RUPDF下載
B1500RW Compact 1 x 2 Inch 15W Wide Input Ra... MPD [MicroPower Direct, LLC] B1500RWPDF下載

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EIA/TIA 568國際綜合布線標準
℃ b高溫 70℃±2℃ c最低值瞬變率3℃／min d照時間（每個溫度段）:30 min e周期次數(shù)：100 f在50個溫度周期之后,b組樣品得到33次輸入及輸出周期。 2.評估在50±5次周期以及在檢測周期完成之后，進行檢查并測量接觸電阻。這些樣品被用來作為濕度/溫度周期檢測。 12.2.6.1.6.7 濕度及溫度周期濕度／溫度周期測試應(yīng)與iec標準測一致，即采用"刊物68-2-38"，"測試方法z1／ad"（參考b150〕用低溫周期循環(huán)。a組樣品輸入端應(yīng)以端接及非端接的方法進行測試。b組樣品輸出端僅以端接的方式進行測試。 1．檢測條件：本項檢測僅對那些通過熱沖擊檢測的產(chǎn)品進行 a 低溫 25℃±2℃ b 高溫 65℃±2℃ c低溫周期循環(huán) -10℃± 2℃ d 相對濕度（在高低溫時）： 93%±3%（不結(jié)霜） e 周期時間： 24h f 周期次數(shù) 21 g b組樣品需在7天以及21天之后附加的34個周期之后一并得出33個輸入及輸出

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