使用先進的控制方法來提高基于 GaN 的 PFC 的功率密度
出處:維庫電子市場網 發(fā)布于:2024-03-26 16:47:52 | 439 次閱讀
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眾所周知,圖騰柱 PFC 是高功率、高效率 PFC 的主力。圖 1說明了該拓撲。

在交流線路的正半周期期間,S 2用作控制 FET,S 1用作同步整流器。S 4始終開啟,S 3始終關閉。圖 2顯示了由于控制 FET S 2導通而導致電感器電流增加的時間間隔。圖3顯示了電感電流通過同步整流器S 1放電的時間間隔。

圖 2正半周期電感電流充電間隔。資料德州儀器

圖 3正半周期電感放電間隔。資料德州儀器圖 4和圖 5顯示了負半周期的相同行為。

S 1和 S 2使用 GaN 開關,使轉換器能夠以更高的開關頻率運行,同時開關的開通和關斷損耗更低。然而,如果 GaN 開關可以通過零電壓開關 (ZVS) 開啟,則可以實現更高的頻率。此設計的目標是在所有線路和負載條件下的每個開關周期實現 ZVS。為了做到這一點,你需要做兩件事:
用于告知控制器是否已實現 ZVS 的反饋
微控制器可以實時執(zhí)行的算法,以實現低總諧波失真 (THD)您可以通過 GaN 開關內部的集成零電壓檢測 (ZVD) 傳感器來完成第一項任務 [1]。如果開關通過 ZVS 導通,ZVD 標志的工作方式是斷言高電平信號;如果在導通時未實現 ZVS,則 ZVD 信號保持低電平。圖 6和圖 7說明了這種行為。

圖 6采用具有集成驅動器、保護和溫度報告功能的 LMG3425R030 GaN FET 以及 TMS320F280049C MCU 的 ZVD 反饋框圖。資料德州儀器圖 7帶 ZVS 的 ZVD 信號(左)和不帶 ZVS 的 ZVD 信號(右)。集成的 ZVD 傳感器啟用 ZVD 標志,如果開關通過 ZVS 打開,則可以看到該標志。
GaN 開關內可提供許多優(yōu)勢:最少的組件數量、低延遲以及可靠的 ZVS 事件檢測。
除了 ZVD 信號之外,您還需要一種能夠計算開關時序參數的算法,以便同時實現 ZVS 和低 THD。圖 8是實現該算法所需的硬件框圖。

圖 8基于 ZVD 的控制方法所需的硬件,該方法使算法能夠計算開關時序參數,以同時實現 ZVS 和低 THD。資料德州儀器求解 GaN FET 漏源電壓 (V DS ) 諧振躍遷的 ZVS 狀態(tài)平面將為您提供此設計的算法。圖 9顯示了 GaN FET V DS、電感器電流和控制信號,以及時域圖和狀態(tài)平面圖。

“j”是每個死區(qū)時間間隔開始和結束時的歸一化電流“m”是標準化電壓
“θ”用于歸一化時序參數
該圖還顯示了標準化關系。圖 8 中的微控制器求解圖 9 中所示的狀態(tài)平面系統(tǒng)方程,以便系統(tǒng)實現 ZVS 和理想功率因數。ZVD 信號提供反饋,指示微控制器如何調整開關頻率以滿足 ZVS。

圖 10應用頻率太低(左)、理想(中)和太高(右)時的 ZVD 控制波形。資料德州儀器硬件性能
圖 11是使用 GaN 和之前描述的算法的兩相 5 kW 設計示例的照片。


圖 12在全功率下采集的電感器電流波形(I LA和 I LB)和 GaN FET V DS波形:(a) V IN <V OUT /2,(b) V IN = V OUT /2,以及 (c) ) V輸入? V輸出/2。資料德州儀器圖 13顯示了在整個負載范圍內以 230V交流輸入運行的系統(tǒng)的測量效率和 THD 。
圖 13在整個負載范圍內使用 230V交流輸入運行的兩相 PFC 的效率和 THD 。資料德州儀器
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