剖析 IGBT 模塊封裝:高可靠性背后的技術(shù)壁壘
出處:網(wǎng)絡(luò)整理 發(fā)布于:2025-08-26 16:26:30
高可靠性設(shè)計與封裝工藝控制難題
散熱效率 —— 模塊封裝的關(guān)鍵指標(biāo)
| 類別 | 主流方案 | 先進方案 |
|---|---|---|
| 芯片間連接方式 | 鋁線鍵合 | 鋁帶鍵合、銅線鍵合 |
| 模組散熱結(jié)構(gòu) | 單面直接水冷 | 雙面間接水冷、雙面直接水冷 |
| DBC 板 / 基板材料 | DBC:Al?O? 基板:Cu | DBC:AlN、Si?N? 基板:AlSiC |
| 芯片與 DBC 基板的連接方式 | SnAg 焊接 | SnSb 焊接、銀燒結(jié)、銅燒結(jié) |
| 表 1 IGBT 封裝技術(shù)的升級方向 |
客戶壁壘 —— 周期長,先發(fā)企業(yè)優(yōu)勢明顯
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