NI發(fā)布PXI和PCI接口
出處:維庫(kù)電子市場(chǎng)網(wǎng) 發(fā)布于:2023-06-20 15:02:56
美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(NaTIonal Instruments,簡(jiǎn)稱NI)今天發(fā)布PXI和PCI接口,該接口能夠擴(kuò)展NI-XNET平臺(tái),使其支持局域互連網(wǎng)絡(luò)(LIN)通信總線。新推出的NI PXI-8516和NI PCI-8516 LIN接口使工程師和科學(xué)家能夠在NI LabVIEW、NI LabWindows/CVI和C/C++、LabVIEW實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)中開(kāi)發(fā)LIN應(yīng)用。作為NI-XNET平臺(tái)的一部分,新的PXI和PCI接口能夠理想用于要求實(shí)時(shí)高速控制LIN幀和信號(hào)的應(yīng)用,例如硬件在環(huán)仿真、快速控制原型、總線監(jiān)控和自動(dòng)化控制。此外,新的接口支持導(dǎo)入和使用來(lái)自LDF數(shù)據(jù)庫(kù)的信號(hào),這可以簡(jiǎn)化對(duì)于總線上的LIN消息的調(diào)度和縮放。
NI-XNET是基于PXI和PCI的高性能、簡(jiǎn)單易用的產(chǎn)品之一,用于與包括控制器局域網(wǎng)(CAN)、LIN和FlexRay在內(nèi)的嵌入式網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行通信。NI-XNET可以輕松與LabVIEW集成,可使用同樣的API函數(shù)對(duì)CAN總線、LIN總線和FlexRay總線進(jìn)行編程,并能自動(dòng)將低級(jí)的幀數(shù)據(jù)翻譯成可用工程數(shù)據(jù)。新的接口結(jié)合了低級(jí)微控制器接口的高性能和靈活性,以及Windows或LabVIEW實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)開(kāi)發(fā)環(huán)境的高速和強(qiáng)大性。它們還可以輕松地集成到臺(tái)式實(shí)時(shí)電腦和實(shí)時(shí)PXI系統(tǒng)中。
PXI和PCI接口為要求較高的應(yīng)用提供高性能和易用性,可理想用于高信號(hào)數(shù)量、低延遲的環(huán)境。接口可以通過(guò)由NI-XNET設(shè)備驅(qū)動(dòng)的DMA驅(qū)動(dòng),將LIN總線連接到主存儲(chǔ)器,從而把系統(tǒng)延遲從幾毫秒降低到幾微秒。利用驅(qū)動(dòng),板載處理器能夠?qū)IN幀和信號(hào)在接口和用戶程序之間進(jìn)行傳輸,而不需經(jīng)過(guò)CPU中斷,從而減少了主處理機(jī)處理復(fù)雜模型和應(yīng)用的時(shí)間。
版權(quán)與免責(zé)聲明
凡本網(wǎng)注明“出處:維庫(kù)電子市場(chǎng)網(wǎng)”的所有作品,版權(quán)均屬于維庫(kù)電子市場(chǎng)網(wǎng),轉(zhuǎn)載請(qǐng)必須注明維庫(kù)電子市場(chǎng)網(wǎng),http://www.hbjingang.com,違反者本網(wǎng)將追究相關(guān)法律責(zé)任。
本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其它出處的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)或證實(shí)其內(nèi)容的真實(shí)性,不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品出處,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問(wèn)題,請(qǐng)?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
- USB-C接口全解析:協(xié)議兼容、快充原理與常見(jiàn)問(wèn)題排查2025/12/16 9:50:42
- 簡(jiǎn)述計(jì)算機(jī)總線的分類2025/9/4 17:12:23
- 深度剖析三進(jìn)線兩母聯(lián)供電系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案2025/9/3 10:37:39
- 匯流排是什么匯流排好還是線接好2025/8/28 17:13:00
- 安森美 USB - C 電池充電器解決方案2025/8/28 15:45:10
- 高速PCB信號(hào)完整性(SI)設(shè)計(jì)核心實(shí)操規(guī)范
- 鎖相環(huán)(PLL)中的環(huán)路濾波器:參數(shù)計(jì)算與穩(wěn)定性分析
- MOSFET反向恢復(fù)特性對(duì)系統(tǒng)的影響
- 電源IC在惡劣環(huán)境中的防護(hù)設(shè)計(jì)
- 連接器耐腐蝕性能測(cè)試方法
- PCB電磁兼容(EMC)設(shè)計(jì)與干擾抑制核心實(shí)操規(guī)范
- 用于相位噪聲測(cè)量的低通濾波器設(shè)計(jì)與本振凈化技術(shù)
- MOSFET在高頻開(kāi)關(guān)中的EMI問(wèn)題
- 電源IC在便攜式設(shè)備中的設(shè)計(jì)要點(diǎn)
- 連接器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)常見(jiàn)問(wèn)題分析









