降低車用PCB缺陷率的6大方法
出處:維庫電子市場網(wǎng) 發(fā)布于:2017-09-05 15:51:58
在當(dāng)今PCB重點應(yīng)用對象中,汽車用PCB就占據(jù)重要位置。但由于汽車的特殊工作環(huán)境、安全性和大電流等要求特點,其對PCB的可靠性、環(huán)境適應(yīng)性等要求較高,涉及的PCB技術(shù)類型也較廣,這對于PCB企業(yè)來說,是一個挑戰(zhàn);而對于想開拓汽車PCB市場的廠商來說,需要對該新型市場做更多的了解和分析。
汽車用PCB特別強調(diào)高可靠性和低DPPM,那么,我們的企業(yè)是否在高可靠性制造方面擁有技術(shù)和經(jīng)驗的積累?是否與今后的產(chǎn)品發(fā)展方向一致?在制程控制上,是否能很好地按照TS16949的要求做?是否已經(jīng)做到了低的DPPM?這些都要做仔細的評估,光看到這塊誘人的蛋糕而盲目進入,將會對企業(yè)本身帶來傷害。
以下提供有代表性的部分生產(chǎn)汽車用PCB企業(yè)在測試過程中的一些特別做法提供給廣大PCB同仁備以參考:
1、二次測試法
部分PCB生產(chǎn)企業(yè)采納“二次測試法”以提高找出經(jīng)次高壓電擊穿缺陷板率。
2、壞板防呆測試系統(tǒng)
越來越多的PCB生產(chǎn)廠家在光板測試機安裝了“好板打標(biāo)系統(tǒng)”以及“壞板防錯箱”以有效地避免人為的漏失。好板打標(biāo)系統(tǒng)為測試機對經(jīng)過測試的PASS板進行標(biāo)識,可有效地防范經(jīng)測試的板或壞板流到客戶手中。壞板防錯箱為在測試過程中,測試出PASS板時,測試系統(tǒng)輸出箱子打開的信號;反之,測試出壞板時,箱子關(guān)閉,讓操作人員正確放置經(jīng)過測試的電路板。
3、建立PPm質(zhì)量制
目前PPm(Partspermillion,百萬分率的缺陷率)質(zhì)量制在PCB制造廠商中開始廣泛應(yīng)用。在眾多我公司客戶中,以新加坡的HitachiChemICal將其應(yīng)用及取得的成效為值得借鑒。在該廠內(nèi)有20多人專門負責(zé)在線PCB的品質(zhì)異常及PCB品質(zhì)異常退貨的統(tǒng)計分析工作。運用SPC生產(chǎn)過程統(tǒng)計分析方法,將每片壞板及每片退回的缺陷板進行分類后統(tǒng)計分析,并結(jié)合微切片等輔助工具進行分析在哪個制作工序產(chǎn)生壞及缺陷板。根據(jù)統(tǒng)計的數(shù)據(jù)結(jié)果,有目的地去解決工序上出現(xiàn)的問題。
4、比較測試法
部分客戶不同批量PCB采用兩種不同品牌的機型進行對比測試,并跟蹤對應(yīng)批量的PPm情況,從而了解兩種測試機的性能狀況,從而選擇更佳性能的測試機來進行測試汽車用PCB.
5、提高測試參數(shù)
選擇更高的測試參數(shù)來嚴(yán)格偵查此類PCB.因為,如果選擇更高的電壓和閥值,增加高壓讀漏電次數(shù),可提高PCB缺陷板的檢出率。例如蘇州某大型臺資PCB企業(yè)采用300V,30M,20歐進行測試汽車用PCB.
6、定期校驗測試機參數(shù)
測試機在長期運作后,內(nèi)阻等相關(guān)的測試參數(shù)均會有所偏差。因而需定期調(diào)校機器參數(shù),以保證測試參數(shù)的精準(zhǔn)度。測試設(shè)備在相當(dāng)一部分的大型PCB企業(yè)均半年或一年進行整機保養(yǎng)、調(diào)校內(nèi)部性能參數(shù)。追求“零缺陷”汽車用PCB一直為廣大PCB人努力的方向,但受制程設(shè)備、原材料等多方面的限制,至今PCB世界百強企業(yè)仍在不斷探索降低PPm的方法。
版權(quán)與免責(zé)聲明
凡本網(wǎng)注明“出處:維庫電子市場網(wǎng)”的所有作品,版權(quán)均屬于維庫電子市場網(wǎng),轉(zhuǎn)載請必須注明維庫電子市場網(wǎng),http://www.hbjingang.com,違反者本網(wǎng)將追究相關(guān)法律責(zé)任。
本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其它出處的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點或證實其內(nèi)容的真實性,不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品出處,并自負版權(quán)等法律責(zé)任。
如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
- 高速PCB信號完整性(SI)設(shè)計核心實操規(guī)范2026/4/10 11:24:24
- PCB電磁兼容(EMC)設(shè)計與干擾抑制核心實操規(guī)范2026/4/9 10:38:43
- PCB可制造性設(shè)計(DFM)核心實操規(guī)范2026/4/8 10:41:07
- PCB測試點設(shè)計與檢測適配核心實操規(guī)范2026/4/7 11:55:25
- PCB散熱設(shè)計與熱管理核心實操規(guī)范2026/4/3 14:38:57
- 高速PCB信號完整性(SI)設(shè)計核心實操規(guī)范
- 鎖相環(huán)(PLL)中的環(huán)路濾波器:參數(shù)計算與穩(wěn)定性分析
- MOSFET反向恢復(fù)特性對系統(tǒng)的影響
- 電源IC在惡劣環(huán)境中的防護設(shè)計
- 連接器耐腐蝕性能測試方法
- PCB電磁兼容(EMC)設(shè)計與干擾抑制核心實操規(guī)范
- 用于相位噪聲測量的低通濾波器設(shè)計與本振凈化技術(shù)
- MOSFET在高頻開關(guān)中的EMI問題
- 電源IC在便攜式設(shè)備中的設(shè)計要點
- 連接器結(jié)構(gòu)設(shè)計常見問題分析









