從事硬件電路設計不到兩年的小李設計了某產品的硬件電路，從公司優(yōu)質供應商華強PCB打板回來手工焊接樣板，發(fā)現(xiàn)樣板沒有如預期工作，經過幾天的調試，終于發(fā)現(xiàn)是信號調理電路部分出問題。但是該部分電路設計是沿用之前產品中的成熟電路，是經過驗證沒有問題的。
　　小李百思不得其解，焦頭爛額，就來請教主管——擁有超過10年工作經驗的老樊。老樊稍作研究后，讓小李讀信號調理電路中用到的某款運放芯片手冊，同時檢測運放的好壞。
　　小李反復閱讀芯片手冊多次后，繼續(xù)向老樊請教運放芯片測試?？吹饺绱撕脤W的小李，老樊想起了年輕時候的自己，就讓小李去研發(fā)物料倉取來幾顆此次電路用到的運放芯片來到會議室，然后給小李實例講解運放芯片及其測試。小李當然不會放過此次良機，記錄了學習筆記如下。
　　現(xiàn)在公司有正負電壓源，高萬用表，示波器，信號發(fā)生器，用這些儀器測試運放芯片，可以測試運放的參數(shù)：
　　1. ICC電流

　　圖1 ICC測試原理圖

　　ICC測試方法：
　　正負2.5V電源供電。
　　V+ = 2.50V、V- = -2.50V，Vin = 0V, 測試V+電流
　　以下測試所有IC的電源（V+和V-端）需要加0.1uF電容。
　　2. 擺率測試

　　圖2 擺率測試

　　擺率測試方法：
　　正負2.5V電源供電。
　　VIN輸入V+到V-的方波，由示波器觀察VO波形，求VO上升和下降的斜率就是SR+和SR-
　　3. VOS、PSRR、CMRR測試

　　圖3  VOS、PSRR、CMRR測試測試原理圖

　　VOS測試方法：
　　正負2.5V電源供電。
　　其中RI=50Ω, RF=20KΩ,(電阻可選不同阻值，增益不同)
　　V+ = 2.5V、V- = -2.5V,VA=0V，測試VL=V0
　　VOS=V0/AV
　　PSRR測試方法：
　　正負2.5V電源供電。
　　V+ = 2.0V、V- = -0.5V，VA = +0.75V, 測試VL=V1
　　V+ = 3.5V、V- = -2.0V, VA = +0.75V，測試VL=V2
　　CMRR測試方法：
　　正負2.5V電源供電。
　　1. V+ = +2.0V, V- = -3.5V, VA = -0.75V，測試VL=V3
　　2. V+ = +5.7V, V- = +0.2V, VA = +2.95V，測試VL=V4
　　3. V+ = -0.2V, V- = -5.7V, VA = -2.95V，測試VL=V5
　　4. AOL測試

　　圖4 AOL測試原理圖

　　AOL測試方法：
　　正負2.5V電源供電。
　　其中RI=50Ω, RF=20KΩ,
　　AOL1: RL=10K或2K
　　其中RI=50Ω, RF=20KΩ,
　　AOL1: RL=10K
　　V+ = 2.5V, V- = -2.5V, VA= +2.475V, RL=10K, 測試VL=V6
　　V+ = 2.5V, V- = -2.5V, VA= -2.475V, RL=10K, 測試VL=V7
　　AOL2: RL=2K
　　V+ = 2.5V, V- = -2.5V, VA= +2.425V, RL=2K, 測試VL=V8
　　V+ = 2.5V, V- = -2.5V, VA= -2.425V, RL=2K, 測試VL=V9
　　5. 輸出驅動能力測試

　　圖5 Isource測試原理圖

　　圖6 Isink測試原理圖

　　測試方法：
　　正負2.5V電源供電。
　　可以同相輸入端或反相輸入端加入信號。測試輸出對地電流。
　　6. 輸入偏置電流與失調電流測試

　　圖7 輸入失調電流、偏置電流測試原理圖

　　輸入失調電流、偏置電流測試方法：
　　正負2.5V電源供電。
　　S1、S2都閉合，示波器測試輸出，S1斷開，看示波器波形變化，取線性變化部分dV/dT就是同相端IB/C
　　S1、S2都閉合，示波器測試輸出，S2斷開，看示波器波形變化，取線性變化部分dV/dT就是反相端IB/C
　　求出兩個IB后，取平均值就是IB，取差就是IOS
　　這種測試方法可以測得fA級的失調電流。測試時需要選用低漏電流的電容，推薦使用極低漏電流的特氟龍電容，聚丙烯(PP)電容或聚苯乙烯電容。
　　7. 帶寬的估計測試

　　圖8 BGW測試原理圖

　　BGW測試方法：
　　正負2.5V電源供電。放大10倍或20倍
       經過測試和對比數(shù)據(jù)手冊，發(fā)現(xiàn)用到的運放芯片果然有鬼。經詢問采購，發(fā)現(xiàn)這次的幾十顆運放芯片是在電子市場買到的，很可能買到了假貨。