驅(qū)動(dòng)單相BLDC電機(jī)如何使用低成本單片機(jī)驅(qū)動(dòng)單繞組單相無刷直流電機(jī)
出處:維庫電子市場網(wǎng) 發(fā)布于:2016-03-23 16:06:48
此類電機(jī)結(jié)構(gòu)簡單,易于制造,因此成本較低。此外,它只需要使用單位置傳感器和一些驅(qū)動(dòng)器開關(guān)即可控制電機(jī)繞組并為其供電。因此,可以輕松地在電機(jī)和控制用電子元器件之間做出權(quán)衡。為保持成本效益,需要使用低成本的電機(jī)驅(qū)動(dòng)器。本文介紹的驅(qū)動(dòng)器電路會(huì)利用兩個(gè)反饋回路。一個(gè)是內(nèi)層回路,負(fù)責(zé)控制換向;另一個(gè)是外層回路,負(fù)責(zé)控制轉(zhuǎn)速。電機(jī)轉(zhuǎn)速以外部模擬電壓作為參考,而且會(huì)檢測出過流和過溫故障。
圖1顯示了基于Microchip的8位單片機(jī)PIC16F1613的單相驅(qū)動(dòng)器。選擇這款單片機(jī)是因?yàn)槠湟_數(shù)較少,并且片上外設(shè)可以控制驅(qū)動(dòng)器開關(guān)、測量電機(jī)轉(zhuǎn)速、預(yù)測轉(zhuǎn)子位置以及實(shí)現(xiàn)故障檢測。本應(yīng)用使用以下外設(shè):互補(bǔ)波形發(fā)生器(CWG)、信號測量定時(shí)器(SMT)、模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)、數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)、捕捉/比較/脈寬調(diào)制(CCP)、固定參考電壓(FVR)、定時(shí)器、比較器和溫度指示器。上述外設(shè)通過固件在內(nèi)部進(jìn)行連接,因此可減少所需的外部引腳數(shù)。
圖1:單相BLDC驅(qū)動(dòng)器框圖
全橋電路為電機(jī)繞組供電,且由CWG輸出進(jìn)行控制?;魻杺鞲衅饔糜诖_定轉(zhuǎn)子位置。流過電機(jī)繞組的電流通過檢測電阻Rshunt轉(zhuǎn)換為電壓,從而實(shí)現(xiàn)過流保護(hù)。轉(zhuǎn)速以外部模擬輸入作為參考。圖2顯示了電機(jī)驅(qū)動(dòng)器控制框圖;對于本應(yīng)用,電機(jī)額定電壓為5V,額定轉(zhuǎn)速為2400轉(zhuǎn)/分鐘。電機(jī)驅(qū)動(dòng)器電源電壓為9V。參考轉(zhuǎn)速可以是任一模擬輸入。單片機(jī)的ADC模塊具有10位分辨率以及多8個(gè)通道,因此適用于各類模擬輸入。ADC模塊用于提供參考轉(zhuǎn)速和初始PWM占空比,從而根據(jù)參考轉(zhuǎn)速源對電機(jī)轉(zhuǎn)速進(jìn)行初始化。
圖2:電機(jī)驅(qū)動(dòng)器控制框圖
初始占空比可根據(jù)比例積分(PI)控制器的結(jié)果以及CCP中加載的新占空比值進(jìn)行增減,相應(yīng)的PWM輸出用作CWG的初始源以控制全橋驅(qū)動(dòng)器下橋臂開關(guān)的調(diào)制,從而控制電機(jī)轉(zhuǎn)速。
內(nèi)層回路
內(nèi)層反饋回路負(fù)責(zé)控制換向。CWG輸出用于控制定子繞組的激勵(lì),它取決于霍爾傳感器輸出的狀態(tài)(霍爾傳感器輸出將通過比較器與FVR進(jìn)行比較)。將使能比較器遲滯,以屏蔽傳感器輸出中的噪聲。
比較器輸出可在正向全橋模式與反向全橋模式之間切換,從而使電機(jī)實(shí)現(xiàn)順時(shí)針或逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)。CWG輸出將饋入全橋電路的開關(guān)的輸入。要生成一個(gè)電氣周期,必須執(zhí)行正反向組合。電機(jī)機(jī)械旋轉(zhuǎn)一周需要兩個(gè)電氣周期,因此必須執(zhí)行兩次正反向組合電機(jī)才能完成順時(shí)針旋轉(zhuǎn)。
全橋電路
圖3所示的全橋電路主要由兩個(gè)P溝道MOSFET(用作上橋臂開關(guān))和兩個(gè)N溝道MOSFET(用作下橋臂開關(guān))組成。P溝道晶體管的主要優(yōu)勢在于可以在上橋臂開關(guān)位置輕松實(shí)現(xiàn)柵極驅(qū)動(dòng),從而降低上橋臂柵極驅(qū)動(dòng)電路的成本。雖然上橋臂開關(guān)和下橋臂開關(guān)可同時(shí)開關(guān)(跨導(dǎo)),但應(yīng)避免這種開關(guān)操作,否則將產(chǎn)生直通電流,導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)器元件損壞。為避免這種操作,可使用CWG的計(jì)數(shù)器寄存器來實(shí)現(xiàn)死區(qū)延時(shí)。這樣可避免輸出信號發(fā)生重疊,繼而防止上橋臂和下橋臂同時(shí)導(dǎo)通。理想情況下,N溝道MOSFET和P溝道MOSFET應(yīng)具有相同的導(dǎo)通電阻(RDSon)和總柵極電荷QG,以便獲得的開關(guān)特性。因此,選擇一對互補(bǔ)的MOSFET來匹配上述參數(shù)。但實(shí)際上,由于互補(bǔ)MOSFET的結(jié)構(gòu)不同,無法達(dá)到此要求;P溝道器件的芯片尺寸必須是N溝道器件的2到3倍才能匹配RDSon性能。但是,芯片尺寸越大,QG的影響也越大。因此,選擇MOSFET時(shí),務(wù)必先確定RDSon和QG二者中哪個(gè)對開關(guān)性能的影響更大,然后再相應(yīng)地進(jìn)行選擇。
故障檢測
若轉(zhuǎn)矩負(fù)載超出允許的電機(jī)轉(zhuǎn)矩負(fù)載值,可能會(huì)導(dǎo)致電機(jī)停轉(zhuǎn),從而使全部電流流過繞組。因此,為保護(hù)電機(jī),必須實(shí)現(xiàn)過流和停轉(zhuǎn)故障檢測。要實(shí)現(xiàn)過流檢測,可在驅(qū)動(dòng)電路中添加Rshunt,該電阻會(huì)根據(jù)流過電機(jī)繞組的電流提供相應(yīng)的電壓。電阻兩端的壓降隨電機(jī)電流線性變化。該電壓將饋入比較器的反相輸入并與參考電壓進(jìn)行比較,參考電壓基于Rshunt電阻與允許的電機(jī)停轉(zhuǎn)電流值之積。參考電壓可由FVR提供,并可通過DAC進(jìn)一步縮小。這樣便可以使用非常小的參考電壓,從而將電阻保持在較低水平,進(jìn)而降低Rshunt的功耗。如果Rshunt電壓超出參考電壓,比較器輸出會(huì)觸發(fā)CWG的自動(dòng)關(guān)斷功能,并且只要故障存在,CWG的輸出便會(huì)保持無效狀態(tài)。
過溫故障可通過器件的片上溫度指示器進(jìn)行檢測,溫度指示器的測量范圍為-40?C至+85?C。指示器的內(nèi)部電路會(huì)隨著溫度的不同而產(chǎn)生不同的電壓,然后通過ADC將此電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字量。為提高溫度指示器的度,可實(shí)施單點(diǎn)校準(zhǔn)。
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