DC/DC電源模塊的常見故障及其優(yōu)點(diǎn)
出處:hyaline17 發(fā)布于:2013-02-02 16:14:16
目前不同的供應(yīng)商在市場上推出多種不同的電源模塊,而不同產(chǎn)品的輸入電壓、輸出功率、功能及拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)等都各不相同。其特點(diǎn)是可為專用集成電路(ASIC)、數(shù)字信號處理器(DSP)、微處理器、存儲器、現(xiàn)場可編程門陣列 (FPGA) 及其他數(shù)字或模擬負(fù)載提供供電。電源模塊的可靠性比較高,但也可能發(fā)生故障,在DC-DC電源模塊中,一般可能發(fā)生的故障有以下幾種:
1、模塊在使用過程中輸出電壓降低;
2、模塊停止工作;
3、模塊輸出電壓過高;
4、模塊輸入短路;
5、模塊輸出電流過大。
前兩種DC/DC故障一般不會帶來很大危險(xiǎn),可以故障診斷電路檢測并報(bào)警。
第三種失效方式比較危險(xiǎn),它可以燒毀應(yīng)用電路,一般通過過壓保護(hù)電路來實(shí)現(xiàn)過壓保護(hù),另外也可以在輸出端加穩(wěn)壓二極管來實(shí)現(xiàn)。設(shè)計(jì)時(shí)要合理選擇二極管的參 數(shù),防止由于溫度不同造成穩(wěn)壓點(diǎn)的變化。有些模塊本身自帶過壓保護(hù)。一般來講,25W以下模塊無過壓保護(hù)功能,25W以上模塊內(nèi)部設(shè)計(jì)有過壓保護(hù)電路。過 壓保護(hù)點(diǎn)一般設(shè)計(jì)為135%--145%額定電壓。詳細(xì)設(shè)計(jì)時(shí)要確認(rèn)模塊是否具有這些功能,以免重復(fù)設(shè)計(jì)。
第四種會導(dǎo)致輸入過流,嚴(yán)重時(shí)燒壞印制板,一般可以通過在輸入端選擇合適的保險(xiǎn)管進(jìn)行保護(hù)。保險(xiǎn)管在布線時(shí)一般要布置在靠近電源模塊的輸入端,這樣設(shè)計(jì)的目的是降低輸入線的引線電感,避免保險(xiǎn)管熔斷時(shí),引線電感引起輸入端的過壓。
第五種DC/DC電源模塊故 障可以通過選擇帶有過流保護(hù)的電源模塊,一般的電源模塊都有過流保護(hù)功能,這種模塊在其內(nèi)部可以通過檢測變化器原邊或副邊電流來實(shí)現(xiàn),但要損失一定的效 率。在進(jìn)行電壓模塊選擇時(shí),不是功率額定越大越好。如果降額過大,則用戶板輔助短路時(shí),由于傳輸壓降的存在,輸出電流不足以實(shí)現(xiàn)模塊過流,有可能引起芯片 過熱甚至損壞。
電源模塊還有以下多個(gè)優(yōu)點(diǎn):
● 每一模塊可以分別加以嚴(yán)格測試,以確保其高度可靠,其中包括通電 測試,以便剔除不合規(guī)格的產(chǎn)品。相較之下,集成式的解決方案便較難測試,因?yàn)檎麄€(gè)供電系統(tǒng)與電路上的其他功能系統(tǒng)緊密聯(lián)系一起。
● 不同的供應(yīng)商可以按照現(xiàn)有的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)同一大小的模塊,為設(shè)計(jì)電源供應(yīng)器的工程師提供多種不同的選擇。
● 每一模塊的設(shè)計(jì)及測試都按照標(biāo)準(zhǔn)性能的規(guī)定進(jìn)行,有助減少采用新技術(shù)所承受的風(fēng)險(xiǎn)。
● 若采用集成式的解決方案,一旦電源供應(yīng)系統(tǒng)出現(xiàn)問題,便需要將整塊主機(jī)板更換;若采用模塊式的設(shè)計(jì),只要將問題模塊更換便可,這樣有助節(jié)省成本及開發(fā)時(shí)間。
由于模塊式結(jié)構(gòu)的優(yōu)點(diǎn)甚多,因此電源模塊廣泛用于交換設(shè)備、接入設(shè)備、移動通訊、微波通訊以及光傳輸、路由器等通信領(lǐng)域和汽車電子、航空航天等。
更多電源模塊供應(yīng)信息請點(diǎn)擊:http://www.hbjingang.com/product/searchfile/1837.html
版權(quán)與免責(zé)聲明
凡本網(wǎng)注明“出處:維庫電子市場網(wǎng)”的所有作品,版權(quán)均屬于維庫電子市場網(wǎng),轉(zhuǎn)載請必須注明維庫電子市場網(wǎng),http://www.hbjingang.com,違反者本網(wǎng)將追究相關(guān)法律責(zé)任。
本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其它出處的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)或證實(shí)其內(nèi)容的真實(shí)性,不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品出處,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
- MOSFET驅(qū)動與隔離方案設(shè)計(jì)2026/4/13 15:12:18
- 安防監(jiān)控設(shè)備連接器應(yīng)用分析2026/4/13 13:48:56
- MOSFET反向恢復(fù)特性對系統(tǒng)的影響2026/4/10 11:07:36
- 連接器耐腐蝕性能測試方法2026/4/10 10:56:32
- MOSFET在高頻開關(guān)中的EMI問題2026/4/9 10:13:50
- MOSFET驅(qū)動與隔離方案設(shè)計(jì)
- 高溫環(huán)境下電源IC選型建議
- 安防監(jiān)控設(shè)備連接器應(yīng)用分析
- 高速PCB信號完整性(SI)設(shè)計(jì)核心實(shí)操規(guī)范
- 鎖相環(huán)(PLL)中的環(huán)路濾波器:參數(shù)計(jì)算與穩(wěn)定性分析
- MOSFET反向恢復(fù)特性對系統(tǒng)的影響
- 電源IC在惡劣環(huán)境中的防護(hù)設(shè)計(jì)
- 連接器耐腐蝕性能測試方法
- PCB電磁兼容(EMC)設(shè)計(jì)與干擾抑制核心實(shí)操規(guī)范
- 用于相位噪聲測量的低通濾波器設(shè)計(jì)與本振凈化技術(shù)









