教你如何選擇電流表的內(nèi)外接法
出處:hookcs 發(fā)布于:2012-12-29 17:01:39
電流表是根據(jù)通電導(dǎo)體在磁場中受磁場力的作用而制成的。電流表內(nèi)部有一永磁體,各種尺寸電流表和電壓表(8張)在極間產(chǎn)生磁場,在磁場中有一個線圈,線圈兩端各有一個游絲彈簧,彈簧各連接電流表的一個接線柱,在彈簧與線圈間由一個轉(zhuǎn)軸連接,在轉(zhuǎn)軸相對于電流表的前端,有一個指針。當(dāng)有電流通過時,電流沿彈簧、轉(zhuǎn)軸通過磁場,電流切磁感線,所以受磁場力的作用,使線圈發(fā)生偏轉(zhuǎn),帶動轉(zhuǎn)軸、指針偏轉(zhuǎn)。由于磁場力的大小隨電流增大而增大,所以就可以通過指針的偏轉(zhuǎn)程度來觀察電流的大小。相信大家在使用電流表的時候都會疑問內(nèi)外接法該如何選擇呢?下面是小編總結(jié)的幾個方法供大家參考:
一:誤差法
電流表內(nèi)接法R測=Rx+RA,誤差原因是電流表分壓,其測量結(jié)果偏大,相對誤差為RA/Rx;電流表外接法R測=RxRV/(Rx+RV),誤差原因是電壓表分流,其測量結(jié)果偏小,相對誤差為Rx/RV.
這種方法適用于粗略知道待測電阻值和電壓表、電流表內(nèi)阻值。
二:試探法
將電流表按內(nèi)接法和外接法各測,電壓表和電流表的計(jì)數(shù)都發(fā)生變化,比較兩表變化量的相對大小△I/I和△U/U,其中I、U任取一組測量值。分析其中一個較大的原因,然后回避。例如△I/I>△U/U,說明兩種接法對電流影響較大,其原因在于電壓表分壓作用明確,實(shí)驗(yàn)中應(yīng)回避,故此時應(yīng)該采用電流表內(nèi)接法。
這種方法適用于不知道待測電阻值和電壓表、電流表內(nèi)阻值。
三:法
電流表內(nèi)接法R測=Rx+RA,電流表外接法R測=RxRV/(Rx+RV),若在實(shí)驗(yàn)中知道電壓表或電流表的準(zhǔn)確內(nèi)阻值,可將電表內(nèi)阻值代入測量結(jié)果換算出更加的待測電阻的阻值。此時不受法一中誤差大小的限制,只要選擇能測出電阻值的接法即可。
這種方法適用知道待測電阻值和電壓表、電流表內(nèi)阻準(zhǔn)確值。
更多電流表信息請點(diǎn)擊http://www.hbjingang.com/product/searchfile/3066.html
版權(quán)與免責(zé)聲明
凡本網(wǎng)注明“出處:維庫電子市場網(wǎng)”的所有作品,版權(quán)均屬于維庫電子市場網(wǎng),轉(zhuǎn)載請必須注明維庫電子市場網(wǎng),http://www.hbjingang.com,違反者本網(wǎng)將追究相關(guān)法律責(zé)任。
本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其它出處的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)或證實(shí)其內(nèi)容的真實(shí)性,不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品出處,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
- MOSFET反向恢復(fù)特性對系統(tǒng)的影響2026/4/10 11:07:36
- 連接器耐腐蝕性能測試方法2026/4/10 10:56:32
- MOSFET在高頻開關(guān)中的EMI問題2026/4/9 10:13:50
- 連接器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)常見問題分析2026/4/9 10:02:52
- 連接器選型中容易忽略的關(guān)鍵參數(shù)2026/4/8 10:32:54
- 高速PCB信號完整性(SI)設(shè)計(jì)核心實(shí)操規(guī)范
- 鎖相環(huán)(PLL)中的環(huán)路濾波器:參數(shù)計(jì)算與穩(wěn)定性分析
- MOSFET反向恢復(fù)特性對系統(tǒng)的影響
- 電源IC在惡劣環(huán)境中的防護(hù)設(shè)計(jì)
- 連接器耐腐蝕性能測試方法
- PCB電磁兼容(EMC)設(shè)計(jì)與干擾抑制核心實(shí)操規(guī)范
- 用于相位噪聲測量的低通濾波器設(shè)計(jì)與本振凈化技術(shù)
- MOSFET在高頻開關(guān)中的EMI問題
- 電源IC在便攜式設(shè)備中的設(shè)計(jì)要點(diǎn)
- 連接器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)常見問題分析









