DVI信號特點以及信號優(yōu)勢解讀
出處:xchuang 發(fā)布于:2012-10-10 09:27:55
DVI信號的原理,是將顯卡中經(jīng)過處理的待顯示R.G.B數(shù)字信號與H.V信號進行組合,按非歸零編碼,將每個像素點按10hit的數(shù)字信號進行并→串轉(zhuǎn)換,把編碼后的R.GB數(shù)字流與像素時鐘等4組信號按照T.M.D.S.方式進行傳輸,其每路碼流速率為原像素點時鐘的10倍,以1024×768×70的分辨率為例,像素時鐘為75MHZ,碼流時鐘為75MHz×10,為0.75GHZ.一般DVI的碼流在0.24GHZ到1.65GHZ之間。
利用DVI信號的優(yōu)勢,提供的圖像質(zhì)量。
在VGA信號的顯示中,筆記本的圖象質(zhì)量是的。CPU將要顯示的數(shù)據(jù)交給顯卡,顯卡經(jīng)過處理形成一幅待顯示的圖形信號(數(shù)字信號),將此數(shù)字信號直接驅(qū)動LCD屏,形成筆記本的顯示信號,這是"原裝"的信號,未經(jīng)任何處理和損失。將圖形信號(數(shù)字)經(jīng)過D/A轉(zhuǎn)換后,形成RGBHV信號,傳輸?shù)竭_顯示設(shè)備時還需經(jīng)過A/D過程,重新生成數(shù)字信號,驅(qū)動LCD等設(shè)備,此時的信號經(jīng)過了D/A,D/A轉(zhuǎn)換,造成了在帶寬、信噪比等方面的損失,比如:按奈奎斯特采樣原理,模擬帶寬只有采樣時鐘的一半,而信噪比僅有56dB左右(按8bit量化)。但是如果將圖形信號(數(shù)字)經(jīng)過并/串轉(zhuǎn)換,形成DVI信號輸出,再通過DVI傳輸?shù)竭_顯示設(shè)備時只需再經(jīng)過串/并轉(zhuǎn)換,就可直接驅(qū)動LCD等設(shè)備,這個過程中未經(jīng)過A/D、D/A轉(zhuǎn)換,不會造成信號損失。
利用DVI信號的優(yōu)勢,減少了信號在傳輸過程中的損失。
模擬信號在傳輸中,由于傳輸系統(tǒng)的幅頻持性和群延時持性,高低頻干擾,電源地線干擾及反射等影響,信號損失嚴(yán)重,工程中解決和處理以上問題的難度很大,有些甚至是無法解決的。但數(shù)字信號傳輸時就不存在這些問題,數(shù)字傳輸?shù)膬?yōu)點在于抗干擾能力強及可重建再生,簡單地講,就是只要保證傳輸過程中,"0"、"1"的判別沒有發(fā)生錯誤,收端的信號就是正確的和無損的,模擬傳輸中難解決的問題在數(shù)字化的傳輸過程中根本就不存在,這是從根本上解決問題的方案,保證到達顯示設(shè)備的信號與筆記本顯示的信號一樣,充分發(fā)揮顯示設(shè)備的優(yōu)點,明顯提高了整個系統(tǒng)的顯示效果。
版權(quán)與免責(zé)聲明
凡本網(wǎng)注明“出處:維庫電子市場網(wǎng)”的所有作品,版權(quán)均屬于維庫電子市場網(wǎng),轉(zhuǎn)載請必須注明維庫電子市場網(wǎng),http://www.hbjingang.com,違反者本網(wǎng)將追究相關(guān)法律責(zé)任。
本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其它出處的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點或證實其內(nèi)容的真實性,不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品出處,并自負版權(quán)等法律責(zé)任。
如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
- MOSFET反向恢復(fù)特性對系統(tǒng)的影響2026/4/10 11:07:36
- 連接器耐腐蝕性能測試方法2026/4/10 10:56:32
- MOSFET在高頻開關(guān)中的EMI問題2026/4/9 10:13:50
- 連接器結(jié)構(gòu)設(shè)計常見問題分析2026/4/9 10:02:52
- 連接器選型中容易忽略的關(guān)鍵參數(shù)2026/4/8 10:32:54
- 高速PCB信號完整性(SI)設(shè)計核心實操規(guī)范
- 鎖相環(huán)(PLL)中的環(huán)路濾波器:參數(shù)計算與穩(wěn)定性分析
- MOSFET反向恢復(fù)特性對系統(tǒng)的影響
- 電源IC在惡劣環(huán)境中的防護設(shè)計
- 連接器耐腐蝕性能測試方法
- PCB電磁兼容(EMC)設(shè)計與干擾抑制核心實操規(guī)范
- 用于相位噪聲測量的低通濾波器設(shè)計與本振凈化技術(shù)
- MOSFET在高頻開關(guān)中的EMI問題
- 電源IC在便攜式設(shè)備中的設(shè)計要點
- 連接器結(jié)構(gòu)設(shè)計常見問題分析









