用電路對(duì)采樣與保持放大器進(jìn)行測(cè)試
出處:流星一派 發(fā)布于:2011-08-25 21:54:18
采樣保持器是嵌入式系統(tǒng)模擬量輸入通道中的一種模擬量存儲(chǔ)裝置。它是連接采樣器和模數(shù)轉(zhuǎn)換器的中間環(huán)節(jié)。采樣器是一種開(kāi)關(guān)電路或裝置,它在固定時(shí)間點(diǎn)上取出被處理信號(hào)的值。采樣保持器則把這個(gè)信號(hào)值放大后存儲(chǔ)起來(lái),保持一段時(shí)間,以供模數(shù)轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換,直到下一個(gè)采樣時(shí)間再取出一個(gè)模擬信號(hào)值來(lái)代替原來(lái)的值。在模數(shù)轉(zhuǎn)換器工作期間采樣保持器一直保持著轉(zhuǎn)換開(kāi)始時(shí)的輸入值,因而能抑制由放大器干擾帶來(lái)的轉(zhuǎn)換噪聲,降低模數(shù)轉(zhuǎn)換器的孔徑時(shí)間,提高模數(shù)轉(zhuǎn)換器的度和消除轉(zhuǎn)換時(shí)間的不準(zhǔn)確性。一般生產(chǎn)過(guò)程控制計(jì)算機(jī)的模擬量輸入可能是每秒幾十點(diǎn)、幾百點(diǎn),對(duì)于大型系統(tǒng)甚至上千點(diǎn),往往需要高速采樣(如5000~10000點(diǎn)/秒)。為使這些模擬量信號(hào)逐個(gè)地送到模數(shù)轉(zhuǎn)換器,而不至降低被測(cè)信號(hào)的真實(shí)性,必須采用采樣保持器。在低速系統(tǒng)中一般可以省略這種裝置。采樣保持電路由模擬開(kāi)關(guān)、存儲(chǔ)元件和緩沖放大器A組成。
采樣與保持放大器對(duì)模擬電壓執(zhí)行采樣與保持,直到ADC數(shù)字化。完善的采樣電路一直保持某個(gè)電壓,直到完成數(shù)字化。因此,放大器的輸出與它的輸入相同。但真實(shí)情況中,采樣與保持放大器可能會(huì)使電壓升高或降低,由此產(chǎn)生誤差。放大器中的偏移電壓會(huì)導(dǎo)致靜態(tài)加法誤差。而且會(huì)發(fā)生一種特定的加法誤差,即所謂的電壓基底(voltage pedestal),它的起源是在從采樣狀態(tài)向保持狀態(tài)的過(guò)渡中,這一過(guò)渡是由于寄生電荷向保持電容器轉(zhuǎn)移引起的。
采樣與保持放大器用模擬開(kāi)關(guān)把信號(hào)連接到保持電容器。當(dāng)開(kāi)關(guān)閉合時(shí),電阻很低,因此電容器充電,達(dá)到被采樣的輸入電壓。在保持期間,當(dāng)開(kāi)關(guān)電阻很高時(shí),采樣電容器一直保持電壓,直到ADC把它數(shù)字化。在從低開(kāi)關(guān)電阻向高開(kāi)關(guān)電阻過(guò)渡期間,寄生電荷的注入(主要是從開(kāi)關(guān)的柵極向保持電容器注入)不斷給電容器充電,直到開(kāi)關(guān)的控制電壓達(dá)到穩(wěn)定的邏輯電平。注入的電荷在電容器產(chǎn)生誤差電壓。在保持期間也許會(huì)出現(xiàn)一些額外誤差。放大器中的泄漏電流及偏置電流與開(kāi)關(guān)和電容器中的數(shù)十皮安泄漏電流結(jié)合在一起,導(dǎo)致電容器在保持期間充電或放電。
如果應(yīng)用占空比為D和1–D的邏輯控制信號(hào),你就能測(cè)量平均輸出壓差[?VOUT ]=[ VOUT – VIN ],如以下方程所示:

其中VOUT和V/OUT分別是D和1–D的輸出壓差,VSTAT是選定的基準(zhǔn)輸入電壓值的穩(wěn)定輸出壓差,D是占空比,VINJ是電壓基底,VDROPPEAK是壓降峰值。圖1表明方程中的電壓如何隨時(shí)間變化。如果你應(yīng)用占空比為25%的互補(bǔ)控制波形,你就能測(cè)量采樣與保持放大器輸出電壓的另一個(gè)DC分量。,當(dāng)采樣開(kāi)關(guān)持續(xù)接通時(shí),你可以測(cè)量VSTAT電壓,它是真正的DC電壓。VOUT和V/OUT包含一個(gè)波形,它疊加在選定的基準(zhǔn)電壓值上。因此,你應(yīng)該用某個(gè)阻值(比方說(shuō)10 kΩ)的串聯(lián)電阻器測(cè)量這些電壓的均值。

圖1,采樣與保持放大器的保持電容器由于泄漏電流、偏置電流以及電壓階躍而出現(xiàn)壓降,導(dǎo)致放大器的輸出與輸入壓差。
把電壓基底(一個(gè)簡(jiǎn)單的矩形波形)乘以占空比,就得到均值。相比之下,壓降波形看起來(lái)是一個(gè)鋸齒。它的均值增加到占空比平方的一半。壓降峰值表示樣本/HOLD邏輯控制波形的整個(gè)周期T結(jié)束時(shí)的假設(shè)壓降。
你可用前述方程來(lái)求電壓基底值和壓降峰值。75%占空比是一個(gè)很方便的值。下列方程對(duì)該占空比有效:

你必須找出邏輯控制信號(hào)的重復(fù)率fREP。在重復(fù)率上升時(shí),來(lái)自輸入端的輸出壓差幾乎純粹是由DC電壓偏移加上電壓基底導(dǎo)致的:(V/OUT–VSTAT)/(VOUT–VSTAT)≈3。以下方程可求出重復(fù)率的值:fREP≤(0.01/4)×1/(tON–tOFF),其中tON和OFF分別是接通時(shí)間和關(guān)斷時(shí)間。該方程確保采樣與保持放大器的內(nèi)部模擬開(kāi)關(guān)的接通時(shí)間和關(guān)斷時(shí)間值之差,對(duì)的25%和75%占空比準(zhǔn)確度的影響不會(huì)超過(guò)1%。
如果你為某種高性能模擬開(kāi)關(guān)(比如Analog Devices公司的ADG1213)求解該方程,你獲得的重復(fù)率不會(huì)超過(guò)33 kHz。壓降導(dǎo)致的差值在較低的重復(fù)率時(shí)占優(yōu)。在此情況下,重復(fù)率可以是V/OUT–VSTAT≤1/10×VINMAX時(shí)的頻率值,其中VINMAX是輸入電壓范圍。確定重復(fù)率下限的方法是做實(shí)驗(yàn)。
某個(gè)受測(cè)的采樣與保持放大器使用圖2中的電路,使用的電源電壓為–1V,漏極至漏極電壓為5V,并且脈沖發(fā)生器中的邏輯電路的電源電壓為3.3V。在ADG1213的內(nèi)部開(kāi)關(guān)的25%、75%和100%占空比數(shù)值處的兩組測(cè)量值控制著使用的0V和2.5V輸入電壓。你將在1.762 kHz重復(fù)率位置測(cè)量輸出壓差(約為–0.0366 mV)和基底電壓(約為–0.0333 mV)。進(jìn)入保持電容器(CH=2 nF)的殘留有效電荷注入值QINJ等于CH×VINJ。該值為負(fù),并且不超過(guò)–75 fC。以下方程定義了2.5V輸入電壓范圍內(nèi)的電荷注入差值:ΔQIINJ=QINJ(2.5V)–QINJ(0V),并得出–6.7 fC值。以下方程在重復(fù)率為160 Hz時(shí),根據(jù)獲得的壓降峰值確定了殘留有效泄漏電流:ILEAK=CH×VDROPPEAK×fREP,其中ILEAK是泄漏電流。0V輸入電壓時(shí)的泄漏電流約為17 pA,2.5V輸入電壓時(shí)的泄漏電流約為–17 pA。

圖2,使用數(shù)字伏特計(jì)來(lái)測(cè)量采樣與保持放大器的輸出與輸入壓差。
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