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基于ARM的過采樣技術(shù)

出處:晏英俊 張自強 發(fā)布于:2011-06-21 16:31:37

 

  隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,人們對宏觀和微觀世界逐步了解,越來越多領(lǐng)域(物理學(xué)、化學(xué)、天文學(xué)、軍事雷達、地震學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等)的微弱信號需要被檢測,例如:弱磁、弱光、微震動、小位移、心電、腦電等[1~3].測控技術(shù)發(fā)展到現(xiàn)在,微弱信號檢測技術(shù)已經(jīng)相對成熟,基本上采用以下兩種方法來實現(xiàn):一種是先將信號放大濾波,再用低或中分辨率的ADC進行采樣,轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號后,再做信號處理,另一種是使用高分辨率ADC,對微弱信號直接采樣,再進行數(shù)字信號處理。兩種方法各有千秋,也都有自己的缺點。前一種方法,ADC要求不高,特別是現(xiàn)在大部分微處理器都集成有低或中分辨率的ADC,大大節(jié)省了開支,但是增加了繁瑣的模擬電路。后一種方法省去了模擬電路,但是對ADC性能要求高,雖然∑-△ADC發(fā)展很快,已經(jīng)可以做到24位分辨率,價格也相對低廉,但是它是用速度和芯片面積換取的高[4],導(dǎo)致采樣率做不高,特別是用于多通道采樣時,由于建立時間長,采樣率還會顯著降低,因此,它一般用于低頻信號的單通道測量,滿足大多數(shù)的應(yīng)用場合。而本文提出的方案,可以繞過上述兩種方法的缺點,利用兩者的優(yōu)點實現(xiàn)微弱信號的高測量。

  過采樣技術(shù)是提高測控系統(tǒng)分辨率的常用方法,已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域。例如,過采樣成功抑制了多用戶CDMA系統(tǒng)中相互正交用戶碼接收機(A Mutually Orthogonal Usercode-Receiver,AMOUR)的噪聲[5~6],提高了光流估計(optical flow estimation,OFE)的[7],改善了正交頻分復(fù)用(OFDM)信號的峰-均比[8]等。但是,這些過采樣技術(shù)應(yīng)用的前提是采樣前的信號幅值能與ADC的輸入范圍相當(dāng)。而用ADC采集微弱信號時,直接使用過采樣技術(shù)提高不了,而且由于信號幅值遠小于ADC的輸入范圍,它的有效位數(shù)還會減小,使隨之下降。本文采用先疊加成形函數(shù)的方法,然后利用過采樣技術(shù),解決了因為信號幅值小,而使過采樣失效的問題。本文還詳細分析了成形函數(shù)類型和幅值,以及過采樣率對分辨率的影響。

  1 過采樣技術(shù)分析

  1.1 過采樣原理

  過采樣是對待測數(shù)據(jù)進行多次采樣,獲取樣本數(shù)據(jù),累計求和這些樣本數(shù)據(jù),并對它們均值濾波,減小噪聲后終獲得采樣結(jié)果。過采樣在一定條件下能夠提高信噪比(SNR),同時使噪聲減弱,從而提升測量分辨率。過采樣技術(shù)將采樣頻率提高到被采樣頻率的4倍,能過濾掉高于3fb的分量,用數(shù)字濾波器過濾fb~3fb的分量,終有用分量被完全保存下來。若采取足夠多次采樣,則能重現(xiàn)原始信號。式(1)是過采樣的頻率要求


   


  式(1)中,F(xiàn)o為過采樣頻率;n為希望增加的分辨率位數(shù);fb為初始采樣頻率要求。

  1.2 過采樣與噪聲、分辨率的關(guān)系

  在提出過采樣與噪聲的對應(yīng)關(guān)系之前,對量化噪聲作一簡單描述。量化誤差是由相鄰ADC碼的間距所決定,因此相鄰ADC碼之間的距離為


   


  式(2)中,N為ADC碼的位數(shù);Vr為基準(zhǔn)電壓。式(3)為量化誤差ed的關(guān)系式。

  奈奎斯特定理指出,如果被測信號的頻帶寬度小于采樣頻率的1/2,那么可以重建此信號?,F(xiàn)用白噪聲近似描繪實際信號中的噪聲,在信號頻帶中的噪聲能量譜密度為

   


    式(4)中,e(f)為帶內(nèi)能量譜密度;ea為平均噪聲功率;fs為采樣頻率。


   


    ADC量化噪聲的功率關(guān)系如式(5)所示。由于量化噪聲會引發(fā)固定噪聲功率,因此針對增加的有效位數(shù)能夠計算過采樣比


   


    式(6)中P為過采樣比;fs為采樣頻率;fm為輸入信號頻率。低通濾波器輸出端的帶內(nèi)噪聲功率見式(7)。其中n2是濾波器輸出的噪聲功率


   


  由此可見,過采樣能減少噪聲功率卻又對信號功率不產(chǎn)生影響,在減小量化誤差的同時,能夠獲得與高分辨率ADC相同的信噪比,從而增加被測數(shù)據(jù)的有效位數(shù)。通過提高采樣頻率或過采樣比可提高ADC有效分辨率。

  2 過采樣滿足條件及操作步驟

  對于過采樣,理論上需要信號有一定噪聲,并且必須近似白噪聲,幅度足夠大。若噪聲信號不能滿足前面講述的理論要求,就需要引入噪聲激勵。因此,選用周期性噪聲作為激勵信號。同時對激勵噪聲有一定要求:激勵噪聲幅度≥1 LSB;噪聲均值在添加激勵噪聲時必須是0.

  在理解過采樣理論及需要滿足的條件后,出于對具體應(yīng)用的考慮,設(shè)計了過采樣的操作步驟,概括如下:

 ?。?)判斷被采樣信號是否有噪聲,如果沒有噪聲,則疊加周期性激勵噪聲。

  (2)對信號進行4n次過采樣(n為希望增加的分辨率位數(shù))。如果使用片內(nèi)10位ADC,希望得到14位的ADC,則需要44即256次10位的過采樣。

 ?。?)抽取數(shù)字序列,對各個采樣值進行累加。

  (4)對累加后的采樣數(shù)據(jù),若提高n位則右移n位,終得到過采樣值。

  3 LM3S8962實現(xiàn)ADC過采樣

  3.1 Cortex-M3內(nèi)核特點介紹

    ARM Cortex?- M3 處理器是行業(yè)的 32 位處理器,適用于具有高確定性的實時應(yīng)用,已專門開發(fā)為允許合作伙伴為范圍廣泛的設(shè)備(包括微控制器、汽車車體系統(tǒng)、工業(yè)控制系統(tǒng)以及無線網(wǎng)絡(luò)和傳感器)開發(fā)高性能低成本的平臺。該處理器提供出色的計算性能和對事件的卓越系統(tǒng)響應(yīng),同時可以應(yīng)對低動態(tài)和靜態(tài)功率限制的挑戰(zhàn)。該處理器是高度可配置的,可以支持范圍廣泛的實現(xiàn)(從那些需要內(nèi)存保護和強大跟蹤技術(shù)的實現(xiàn)到那些需要極小面積的對成本非常敏感的設(shè)備)。該內(nèi)核具有如下特性:

  (1)采用ARMv7M架構(gòu),在ARMv4T架構(gòu)基礎(chǔ)上擴展了36條指令。

 ?。?)基于哈佛結(jié)構(gòu),數(shù)據(jù)與指令可同時從存儲器讀取,并行執(zhí)行多個操作,加快程序執(zhí)行速度。與ARM7TDMI-S相比,比ARM指令每兆赫效率提高了35%,比Thumh指令效率提高了70%.

  (3)帶有多種睡眠和喚醒模式,實現(xiàn)產(chǎn)品的低功耗。

  (4)單周期乘法、乘-加、硬件除法指令,實現(xiàn)快速運算。

 ?。?)低延遲中斷處理:支持8層硬件中斷嵌套,末尾連鎖功能,高優(yōu)先級中斷遲來處理。

  3.2 過采樣的軟件實現(xiàn)  

    (1)外設(shè)初始化。

  在軟件實現(xiàn)過采樣之前,必然要對各個模塊進行初始化和配置。初始化定時器、ADC、UART等模塊,定時器模塊用來提供系統(tǒng)時鐘周期,配置ADC的觸發(fā)模式和采樣速率,利用UART將測量值傳遞給PC,方便查驗是否正確。

  (2)產(chǎn)生PWM信號,作為噪聲。

  為了保證過采樣原理應(yīng)用的可靠性,引入噪聲激勵信號。而為了避免激勵噪聲出現(xiàn)的誤差,使用內(nèi)部的PWM信號發(fā)生器產(chǎn)生周期性和對稱性很好的PWM波,作為激勵噪聲。產(chǎn)生噪聲步驟如圖1所示。

 

                    

 


 ?。?)數(shù)據(jù)的采集、濾波及抽取。

  在過采樣中所做的數(shù)字平均濾波僅提高了平滑度,卻并沒有增加,抽取過程才是真正意義上的提高。額外的K次采樣,按照常規(guī)平均那樣進行累加,但并不是直接將結(jié)果除以M,而是右移N位(N是期待所增加的額外),得到更的采樣結(jié)果。

  過采樣算法如圖2所示。對TI的LM3S8962芯片,將10位AD值的提高到12位的方法,直接調(diào)用寄存器讀取函數(shù)HWREG訪問FIFO緩存區(qū),經(jīng)過兩次循環(huán),將從FIFO中收集到的16個10位轉(zhuǎn)換值相加,產(chǎn)生一個14位結(jié)果,右移2位后就得到所希望的12位AD值。

  4 應(yīng)用分析

  轉(zhuǎn)換速率、穩(wěn)定度和分辨率是模數(shù)轉(zhuǎn)換器的衡量標(biāo)準(zhǔn)。為了能夠清楚地看到利用過采樣技術(shù)后對AD值改善的效果,采用LM3S8962芯片進行了12位ADC過采樣實驗。根據(jù)顯示的實驗數(shù)據(jù)和測量情況,給出并分析了指標(biāo)的改善情況。

  對于轉(zhuǎn)換速率,使用片內(nèi)定時器進行測量,在CPU為50 MHz時鐘頻率狀態(tài),ADC的采樣速度為100 kHz時,采樣連續(xù)觸發(fā)模式進行1次12位過采樣時間是52 μs,由于在數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換的同時還要訪問數(shù)據(jù)緩存區(qū),因此再加上64μs才是它的實際速度。

  對數(shù)次采樣后獲得的值進行數(shù)字濾波,滑動平均后,得到較為穩(wěn)定的數(shù)據(jù)值,通過串口傳送過采樣后的數(shù)據(jù)結(jié)果如圖3所示。1組數(shù)據(jù)有6 bit,其中前3 bit是原來的10位采樣值,后3 bit是12位過采樣值。從圖3中能夠得知,12位過采樣分辨率的值比10位采樣值的分辨率值更穩(wěn)定。

 

 


    為了驗證位數(shù)越高,采樣越高,做了一個13位的過采樣實驗。采樣過程中,循環(huán)8次,獲得64組AD值,并利用分段折線法校正非線性誤差,將采樣值轉(zhuǎn)換為標(biāo)準(zhǔn)電壓值。從圖4中可以看出,過采樣后的電壓值波動很小,效果尤為明顯。

 


  5 結(jié)束語

  文中從過采樣的頻譜特性出發(fā),分析了過采樣技術(shù)的基本原理。隨后采用TI公司高性價比的Cortex-M3內(nèi)核ARM,利用過采樣技術(shù)提高了測量值的分辨率。實驗結(jié)果表明,利用過采樣技術(shù)既能降低成本,又能使外圍電路得到簡化,它與Cortex-M3內(nèi)核相結(jié)合后,更能提高系統(tǒng)的運行速率、可靠性與穩(wěn)定性。這種結(jié)合方式對于檢測、監(jiān)控等領(lǐng)域起著積極作用,具有一定的推廣和實用價值。

 


  

參考文獻:

[1]. ARM7TDMI-S datasheet http://www.hbjingang.com/datasheet/ARM7TDMI-S_1231795.html.


關(guān)鍵詞:基于ARM的過采樣技術(shù)

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