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集成電路封裝設計可靠性提高方法研究

出處:blackson 發(fā)布于:2011-10-12 13:51:23

  摘 要:集成電路封裝是集成電路制造中的重要一環(huán),集成電路封裝的目的有:,對芯片進行保護,隔絕水汽灰塵以及防止氧化;第二,散熱;第三,物理連接和電連接。在進行封裝設計時,可以通過一些方法,增強產(chǎn)品的制造穩(wěn)定性以及產(chǎn)品的可靠性。文章研究了引線框架、線弧、等離子清洗及塑封料對封裝可靠性的影響以及一些獲得高質(zhì)量的方法。例如:引線框架的加強設計和等離子清洗可以增強與塑封料之間的結(jié)合力,低線弧能減少沖絲及線弧擺動。這些方法都已經(jīng)被證實有利于產(chǎn)品可靠性的提高。

  1 前言

  隨著集成電路的發(fā)展,小型化與多功能成了大家共同追求的目標,這不僅加速了IC設計的發(fā)展,也促進了IC封裝設計的發(fā)展。IC封裝設計也可以在一定程度上提高產(chǎn)品的集成度,同時也對產(chǎn)品的可靠性起著很重要的影響作用。本文總結(jié)和研究了一些封裝工藝中提高可靠性的方法。

  2 引線框架

  引線框架的主要功能是芯片的載體,用于將芯片的I/O引出。在引線框架的設計過程中,需要考慮幾個因素。

  2.1 與塑封料的粘結(jié)性

  引線框架與塑封料之間的粘結(jié)強度高,產(chǎn)品的氣密性更佳,可靠性更高;與塑封料的粘結(jié)性不好,會導致分層及其他形式的失效。影響粘結(jié)強度的因素除了塑封料的性能之外,引線框架的設計也可以起到增強粘結(jié)強度的作用,如在引腳和基島邊緣或背面設計圖案,如圖1所示。

圖1 各種增強型框架

圖1 各種增強型框架

  2.2 芯片與引腳之間的連接

  引線框架的重要的功能是芯片與外界之間的載體,因此,引線框架應設計得利于芯片與引腳之間的連接,要考慮線弧的長度以及弧度。

  2.3 考慮塑封料在型腔內(nèi)的流動

  對于多芯片類的復雜設計,還應考慮塑封時塑封料在芯片與芯片或芯片與模具之間的流動性。

  3 焊線

  3.1 增強焊線強度

  焊線強度除了焊點處的結(jié)合強度外,線弧的形狀也會對焊線強度有一定的影響。

  增強焊線強度的方法之一是在焊線第二點種球,有BSOB和BBOS兩種方式。如圖2所示。

圖2 BSOB和BBOS的示意圖

圖2 BSOB和BBOS的示意圖

  BSOB的方法是先在焊線的第二點種球,然后再將第二點壓在焊球上;BBOS的方法是在焊線的第二點上再壓一個焊球。兩種方法均能增強焊線強度,經(jīng)試驗,BBOS略強于BSOB。BBOS還應用于die todie(芯片與芯片)之間的焊接,如圖3所示。

  圖3 BBOS用于疊晶及芯片與芯片之間焊接的情況

圖3 BBOS用于疊晶及芯片與芯片之間焊接的情況

  3.2 降低線弧高度

  現(xiàn)在的封裝都向更薄更小發(fā)展,對芯片厚度、膠水厚度和線弧高度都有嚴格控制。一般弧度的線弧,弧高(芯片表面至線弧點的距離)一般不低于100μm,要形成更低的線弧,有以下兩種方法。RB(Reverse Bonding反向焊接)和FFB(FoldedForward Bonding折疊焊接 ),如圖4和圖5所示。

圖4 反向焊接(RB)

圖4 反向焊接(RB)

圖5 折疊正向焊接(FFB)

圖5 折疊正向焊接(FFB)

  反向焊接雖然可以形成低的線弧,但是種球形成了大的焊球,使得焊線間距受到限制。折疊正向焊接方法是繼反向焊接之后開發(fā)的用于低線弧的焊接方法,如圖5所示。

  低線弧不僅能夠滿足塑封體厚度更薄的要求,還能減少塑封時的沖絲以及線弧的擺動(wiresweep),對增加封裝可靠性有一定的幫助。

  3.3 等離子清洗

  提高焊接可靠性的一個重要方法是使用等離子清洗。等離子清洗除能清潔掉芯片及引線框架表面的沾污和氧化物之外,還能激活表面,使結(jié)合面更加牢固。等離子清洗需要保證氣體在產(chǎn)品各個表面均勻的流動,因此需要使用有孔料盒,如圖6所示。

圖6 等離子清洗使用的料盒

圖6 等離子清洗使用的料盒

  等離子清洗的幾個關鍵影響因素有:

 ?。?)氣體成分。等離子清洗使用的氣體一般為氬氣、氧氣和氫氣,也可以使用混合氣體。氬氣和氧氣用來清洗有機殘留,氫氣用來清洗氧化物。

 ?。?)料盒和產(chǎn)品排布。清洗效果的一致性是很重要的,有利于獲得封裝組裝工藝的高質(zhì)量控制 [3]。對于射頻型等離子清洗機而言,應該讓料盒的排布順應氣體的流向,讓氣體均勻流通在料盒的各個位置。

 ?。?)功率和時間。對不同廠家制造的等離子清洗機以及不同類型的產(chǎn)品,都要通過DOE實驗方法,找出合適的設定范圍。

 ?。?)評定方法。直觀的評定等離子清洗效果的方法是滴水試驗,通過觀察界面角來判定親水性,如圖7。

圖7 浸濕示意圖

圖7 浸濕示意圖

  浸濕角在20°~40°之間是合適狀態(tài),16h后浸濕角會大于40°。因此,等離子清洗后的延遲時間建議為8h。

  評估等離子清洗效果的另一方法為比較PpK或CpK,這也是使用等離子清洗的終目標。為了獲得穩(wěn)定的高質(zhì)量控制,我們做了PpK的比較試驗,結(jié)果證明,等離子清洗能夠在一定程度上提高產(chǎn)品的質(zhì)量穩(wěn)定性。試驗內(nèi)容如下:

  試驗設備:EUROPLASMA;氣體:Ar+H2(氬氣+氫氣);線徑:30μm金線;焊球直徑:82.5μm;等離子清洗機RF功率:300W;清洗時間:180s。

表1 等離子清洗前后樣品焊球推力測試結(jié)果比較

表1 等離子清洗前后樣品焊球推力測試結(jié)果比較

  由此可見,等離子清洗對金線的結(jié)合力有一定程度的提高,同時也提高了品質(zhì)穩(wěn)定性。

  4 塑封

  影響塑封效果的主要因素有以下幾個方面。

  4.1 模具和框架設計

  前文中提到一些加強框架與塑封料之間結(jié)合力的設計方法,當需要用到大面積的基島時,就需要考慮用到加強型的設計;同時,接近塑封體邊緣的部分也是脆弱點,也需要一些加強結(jié)合力的方法。

  框架和塑封模具之間關系密切,它們互補互足,設計模具時需要綜合考量框架、內(nèi)部芯片擺放位置、走線方向以及塑封料的物理化學性能。

  4.2 塑封料

  塑封料性能的好壞也直接影響可靠性。一般判斷塑封料等級的首要因素為MSL(潮濕敏感度等級),MSL等級越高,其對芯片的保護越好。其次,熱硬度即熱轉(zhuǎn)化溫度及與不同金屬面之間的粘結(jié)性能也是需要考慮的重要因素。

  5 總結(jié)

  在進行封裝設計時,除了考慮電性能方面的穩(wěn)定性之外,封裝工藝的可靠性設計也是重要的環(huán)節(jié)。封裝工藝需要依靠行業(yè)標準和各個公司總結(jié)出的經(jīng)驗,同時,封裝工藝設計和可靠性測試與失效分析是密不可分的,它們具有相輔相成的關系。封裝工藝需要通過可靠性試驗來衡量,需要失效分析來尋找問題的原因,需要經(jīng)驗與技術來得出改進的方法。

關鍵詞:集成電路封裝設計可靠性提高方法研究集成電路封裝等離子清洗

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