本文討論的SELEX 空中雷達(dá)使用了可擴(kuò)展設(shè)計(jì)，它具有動(dòng)態(tài)可重復(fù)配置的活動(dòng)背板，為多個(gè)矢量計(jì)算（VP）板卡進(jìn)行服務(wù)。當(dāng)出現(xiàn)板卡故障時(shí)，這樣的設(shè)計(jì)可以利用智能背板，通過關(guān)閉可疑板卡的電源對(duì)服務(wù)進(jìn)行降級(jí)。主通信處理器允許通過EFA總線標(biāo)準(zhǔn)、雷達(dá)總線接口、接收器接口和視頻接口對(duì)VP 板卡進(jìn)行訪問。

　　在測(cè)試系統(tǒng)中，NI PCI-6533用作位于每個(gè)SRI（商店可替換品）上EMId（電子模塊標(biāo)識(shí)）設(shè)備的接口。它們帶有元件編號(hào)和序列號(hào)數(shù)據(jù)等等，還包括近故障檢測(cè)日志。PCI-DIO-96 被作為一個(gè)使用CPLD、有160 個(gè)管腳的DIO，CPLD 將來(lái)自測(cè)試控制器PC 的I/O 板卡的輸出和輸入進(jìn)行多路復(fù)用。該系統(tǒng)包括了可選的輸入事件阻塞（用于捕捉瞬態(tài)事件）以及所有雙向操作。16 個(gè)I/O 管腳用作控制和狀態(tài)信號(hào)CONTROL ENGINEERING China版權(quán)所有，而其他80 個(gè)管腳通過多路復(fù)用，提供了160個(gè)輸出和160 個(gè)輸入，用于對(duì)數(shù)字接口進(jìn)行仿真和測(cè)試。

　　JTAG/ 邊界掃描測(cè)試和ISP（在系統(tǒng)編程）是系統(tǒng)的部分，現(xiàn)在被認(rèn)為是用于檢查在生產(chǎn)和原型開發(fā)調(diào)試中線路板（PCBs）和系統(tǒng)是否出現(xiàn)裝配故障以及在發(fā)布設(shè)備中是否出現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng) 服務(wù)故障的主要手段。

　　邊界掃描測(cè)試依賴于內(nèi)置的測(cè)試電路以及現(xiàn)代的高度集成的電子設(shè)備（與IEEE 標(biāo)準(zhǔn)1149.1 兼容），邊界掃描測(cè)試需要由四個(gè)或五個(gè)數(shù)字接口組成的測(cè)試接口。這與傳統(tǒng)釘板測(cè)試系統(tǒng)的巨大形成了鮮明的對(duì)比CONTROL ENGINEERING China版權(quán)所有，釘板測(cè)試系統(tǒng)需要數(shù)百個(gè)甚至上千個(gè)測(cè)試探針連接。因此，邊界掃描測(cè)試器將會(huì)降低到串行協(xié)議接口單元的大小，該單元可由PCI、PXI 或是緊湊型工作臺(tái)（USB/ 以太網(wǎng)）控制單元提供。將電源簡(jiǎn)單地添加到系統(tǒng)中就可以將自治PCB 測(cè)試器投入工作。此外，利用ScanBridge TAP 多路復(fù)用器對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行細(xì)致的設(shè)計(jì)，就可以用單個(gè)控制器訪問系統(tǒng)中的一系列PCB，這樣就構(gòu)建了系統(tǒng)/LRI（線路可替換品）測(cè)試器。

　　空中雷達(dá)充分利用了ScanBridge 設(shè)備，將系統(tǒng)劃分為邏輯可訪問模塊。將模擬測(cè)量?jī)x器和測(cè)試信號(hào)多路復(fù)用器等更多周邊接口硬件加入系統(tǒng)之后，系統(tǒng)就從基于“結(jié)構(gòu)化”邊界掃描的測(cè)試器升級(jí)成功能齊全的集成測(cè)試功能的混和信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)。