安捷倫(Agilent)科技公司日前宣布：安捷倫與海力士半導(dǎo)體公司(Hynix Semiconductor Inc.)攜手推出一款高帶寬、高性能的長(zhǎng)線 ZIF(零插入力)探針，該探針經(jīng)過優(yōu)化，適用于 DDR(雙數(shù)據(jù)速率)和 GDDR(圖形雙數(shù)據(jù)速率)SDRAM 的驗(yàn)證測(cè)試。當(dāng)距離探測(cè)信號(hào)較遠(yuǎn)時(shí)，長(zhǎng)線 ZIF 探針使工程師能夠?qū)Ω咚傩盘?hào)進(jìn)行的測(cè)量。這些探針與安捷倫屢獲殊榮的 InfiniiMax 和 ZIF 探測(cè)系統(tǒng)結(jié)合使用，可提高每個(gè)焊接件的可用性并降低測(cè)試成本。

　　該探測(cè)選件解決了 DDR 設(shè)計(jì)中的一個(gè)基本難題：使工程師能夠在保持信號(hào)完整性的同時(shí)，對(duì) DRAM 芯片上難以觸及的位置進(jìn)行探測(cè)。隨著 DDR 和 GDDR SDRAM 器件的速度不斷提高，設(shè)計(jì)裕量變得越來越少，探測(cè)系統(tǒng)的性能也變得更加重要。長(zhǎng)線 ZIF 探針解決了這個(gè)探測(cè)難題。

　　DDR 和 GDDR 驗(yàn)證的另一個(gè)難題是根據(jù) JEDEC 技術(shù)指標(biāo)需要測(cè)試大量信號(hào)。長(zhǎng)線 ZIF 探針使工程師能夠輕松地對(duì) SDRAM 設(shè)備上需要探測(cè)的多個(gè)信號(hào)進(jìn)行切換。

　　長(zhǎng)線ZIF探針完全滿足對(duì) DDR 存儲(chǔ)器設(shè)計(jì)進(jìn)行全面一致性測(cè)試的需求。