非理想PA(power amplifier，功率放大器)的輸入阻抗是在負(fù)載拉移系統(tǒng)中采用源拉移方法測(cè)量的，這種方法不存在由測(cè)量設(shè)備阻抗引起的不準(zhǔn)確性。但是，對(duì)源和負(fù)載調(diào)諧器采用多點(diǎn)測(cè)量和雙端口S參數(shù)值的測(cè)試方法能夠在探針/器件基準(zhǔn)面上提取射頻信號(hào)功率級(jí)真正的PA輸入阻抗。

　　隨著人們?cè)絹?lái)越多的關(guān)注集成式射頻功率應(yīng)用，對(duì)片上元件進(jìn)行準(zhǔn)確的特征分析對(duì)于成功實(shí)現(xiàn)集成電路設(shè)計(jì)變得至關(guān)重要。尤其對(duì)于PA而言，這一問(wèn)題更加復(fù)雜。發(fā)送通路的高功率量級(jí)決定了PA的多種特殊屬性。其中之一就是它的輸入阻抗較低，該阻抗是隨著功率量級(jí)的變化而變化的。一般地，我們采用負(fù)載拉移系統(tǒng)測(cè)量片上元件的阻抗，或者其他一些不是50Ω理想阻抗的器件。

　　在負(fù)載拉移系統(tǒng)中，具有回波損耗的源阻抗通常被看成是DUT(device undertest，待測(cè)器件)的共軛阻抗。如果回波損耗確實(shí)在DUT的基準(zhǔn)面上，那么使用這種阻抗值是準(zhǔn)確的。但是，由于回波功率是在源調(diào)諧器基準(zhǔn)面上測(cè)量的，因此人們采用不同的方法從在調(diào)諧器基準(zhǔn)面上測(cè)得的回波功率中提取或“去嵌入”DUT基準(zhǔn)面上的回波頻率。與輸入和輸出功率的功率去嵌入方法不同的是，回波功率去嵌入對(duì)相位非常敏感。這使得去嵌入回波損耗只能得到一個(gè)近似的結(jié)果，只是在調(diào)諧器損耗可以忽略時(shí)這一結(jié)果才是準(zhǔn)確的。

　　分析與方法

　　為簡(jiǎn)化起見，假設(shè)在調(diào)諧器基準(zhǔn)面上有一個(gè)理想的(即純電阻的)50Ω源阻抗。圖1給出了源調(diào)諧器基準(zhǔn)面、DUT輸入基準(zhǔn)面、DUT輸出基準(zhǔn)面、Γo、Γtuner、Γs和ΓDUT的基本定義。為敘述方便，我們稱源調(diào)諧器基準(zhǔn)面為“調(diào)諧器基準(zhǔn)面”，稱DUT輸入基準(zhǔn)面為“DUT基準(zhǔn)面”，這里只分析輸入通路。

　　圖1中反射系數(shù)(Γ)、S端口參數(shù)(S)、阻抗(z)和回波損耗(RL)之間的數(shù)學(xué)關(guān)系表達(dá)式如下所示：

　　我們的目標(biāo)是找到RLtuner和RLDUT之間的關(guān)系：

　　其中Sij是源調(diào)諧器模塊的雙端口S參數(shù)，它連接調(diào)諧器基準(zhǔn)面和DUT基準(zhǔn)面。

　　經(jīng)過(guò)化簡(jiǎn)，可得

　　顯然，這是Γtuner幅值和相位的函數(shù)。這種相位關(guān)系確實(shí)有一個(gè)消失點(diǎn)，它出現(xiàn)在下列情況下

　　進(jìn)一步的分析表明，這一條件等效于理想的匹配網(wǎng)絡(luò)(即第二端口上的共軛匹配在端口上產(chǎn)生50Ω的阻抗)。這一條件在史密斯圓圖邊緣的高損耗區(qū)域不成立，因?yàn)閹в锌拷鼈鲃?dòng)桿中心的內(nèi)部抽頭的調(diào)諧器具有較高的損耗。

　　在測(cè)量過(guò)程中采用的另一個(gè)近似處理是假設(shè)回波功率可以忽略。在這種情況下，相位差不存在問(wèn)題。但是，從負(fù)載拉移系統(tǒng)測(cè)得的回波損耗的大小通常都較大，足以推翻這一假設(shè)。而且，回避損耗會(huì)隨著功率的變化而變化，因?yàn)镈UT的阻抗是隨著功率的變化而變化的。因此，在整個(gè)射頻功率量級(jí)的掃描范圍內(nèi)，回波損耗不可能保持較低的水平。