LabVIEW的事件選擇器標(biāo)簽
出處:WYJMCX 發(fā)布于:2008-09-19 16:26:45
和分支結(jié)構(gòu)中的分支選擇器標(biāo)簽作用類似,事件選擇器標(biāo)簽用來添加、刪除、編輯和選擇所處理的事件。
在事件選擇器標(biāo)簽上單擊鼠標(biāo)右鍵,彈出快捷菜單如圖1所示。右鍵菜單的第3欄選擇對(duì)事件進(jìn)行操作:選擇“添加事件分支”添加一個(gè)新事件;選擇“復(fù)制事件分支”添加一個(gè)新事件并復(fù)制當(dāng)前事件框至新事件;選擇“編輯本分支所處理的事件”編輯當(dāng)前事件。
選擇“添加事件分支”或“編輯本分支所處理的事件”,出現(xiàn)如圖1所示的“編輯事件”對(duì)話框,包括以下幾個(gè)部分。

圖1 事件選擇標(biāo)簽的右鍵快捷菜單
?。?)事件處理分支:列出事件結(jié)構(gòu)分支的總數(shù)及名稱。從下拉菜單中選擇一個(gè)條件分支并為該分支編輯事件;切換到其他條件分支時(shí),事件結(jié)構(gòu)將更新,從而在程序框圖上顯示選中的條件分支;每個(gè)條件分支可以包含多個(gè)事件,這些事件被觸發(fā)時(shí)分支都會(huì)做出響應(yīng)。
?。?)事件說明符:列出事件源(應(yīng)用程序、VI、動(dòng)態(tài)或控件)和事件結(jié)構(gòu)當(dāng)前分支處理的所有事件名稱。分為左右兩欄,左側(cè)欄為事件源,右側(cè)欄為事件名稱,如圖2中“<應(yīng)用程序>”為事件源,“超時(shí)”為事件?!笆录础焙汀笆录备吡溜@示“事件說明符”部分選定的事件名,單擊不同的“事件源”或“事件”。可以改變“事件說明符”部分高亮顯示的項(xiàng);單擊按鈕
和按
圖分別可添加和刪除事件。
?。?)事件源:列出按類排列的事件源;在配置的事件中選擇一個(gè)事件或添加一個(gè)事件后,可在此列表中選擇事件源。
?。?)事件:列出事件源對(duì)應(yīng)的事件列表;選擇事件源以后就可以在此列表中選擇其中包含的事件。

圖2“編輯事仵”對(duì)話框
版權(quán)與免責(zé)聲明
凡本網(wǎng)注明“出處:維庫(kù)電子市場(chǎng)網(wǎng)”的所有作品,版權(quán)均屬于維庫(kù)電子市場(chǎng)網(wǎng),轉(zhuǎn)載請(qǐng)必須注明維庫(kù)電子市場(chǎng)網(wǎng),http://www.hbjingang.com,違反者本網(wǎng)將追究相關(guān)法律責(zé)任。
本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其它出處的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)或證實(shí)其內(nèi)容的真實(shí)性,不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品出處,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請(qǐng)?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
- EDA技術(shù)工具鏈與全流程設(shè)計(jì)運(yùn)維指南2026/1/5 10:28:51
- PLC程序現(xiàn)場(chǎng)疑難問題排查與深度優(yōu)化指南2025/12/24 14:36:36
- PLC程序現(xiàn)場(chǎng)調(diào)試與優(yōu)化實(shí)操指南2025/12/24 14:29:57
- 工業(yè)PLC模擬量信號(hào)采集:調(diào)理技術(shù)與抗干擾工程方案2025/12/15 14:39:08
- PLC設(shè)備如何選型2025/9/5 17:15:14
- PCB焊盤與過孔設(shè)計(jì)核心實(shí)操規(guī)范(含可焊性與可靠性保障)
- 汽車電子常用電子元器件選型指南
- MOSFET驅(qū)動(dòng)與隔離方案設(shè)計(jì)
- 高溫環(huán)境下電源IC選型建議
- 安防監(jiān)控設(shè)備連接器應(yīng)用分析
- 高速PCB信號(hào)完整性(SI)設(shè)計(jì)核心實(shí)操規(guī)范
- 鎖相環(huán)(PLL)中的環(huán)路濾波器:參數(shù)計(jì)算與穩(wěn)定性分析
- MOSFET反向恢復(fù)特性對(duì)系統(tǒng)的影響
- 電源IC在惡劣環(huán)境中的防護(hù)設(shè)計(jì)
- 連接器耐腐蝕性能測(cè)試方法









