對智能卡微控制器的分析和防御：測量CPU的電磁輻射
出處：awey 發(fā)布于：2008-11-21 14:45:43
理論上能從測量智能卡微處理器的電磁輻射，以和差分功率分析相同的方式推出有關(guān)其內(nèi)部處理的結(jié)論。小尺寸和小強(qiáng)度的磁場可用超導(dǎo)量子干涉器件SQUID（SuperconductingQuantum Interference Devices）測量，在技術(shù)上是極其復(fù)雜的。一般而言，此方法所不可或缺的有關(guān)半導(dǎo)體器件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的知識也不易得到。此外，IC可以在其頂上疊加數(shù)根線條以極其有效地抵御這種類型的攻擊，即使測得磁場也無法確定究竟是那根線上的電流。
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