惠瑞捷V93000測(cè)試系統(tǒng)推出混合信號(hào)測(cè)試解決方案
出處:Edires 發(fā)布于:2007-09-24 09:25:55
惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司業(yè)務(wù)與服務(wù)支持副總裁Pascal Ronde表示:“消費(fèi)者對(duì)具有移動(dòng)性,且全面整合音頻、視頻、數(shù)據(jù)及電話服務(wù)的多用途組件的需求正橫掃整個(gè)消費(fèi)性電子產(chǎn)品市場(chǎng),影響力更擴(kuò)及半導(dǎo)體市場(chǎng)。在此同時(shí),整合這 些功能的系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)的價(jià)格卻逐年滑落30-40%。這類(lèi)型組件的銷(xiāo)售量激增,價(jià)格卻直直落,在這樣的雙重影響下,制造商別無(wú)選擇,只能以同時(shí)測(cè)試更多組件的能力和比過(guò)去更低的測(cè)試成本來(lái)應(yīng)對(duì)。我們身處這個(gè)產(chǎn)業(yè)的客戶(hù)對(duì)這方面的測(cè)試需求越來(lái)越高,驅(qū)使惠瑞捷開(kāi)發(fā)出消費(fèi)性電子產(chǎn)品的混合信號(hào)測(cè)試解決方案?!?/P>
測(cè)試系統(tǒng)需具備更高的準(zhǔn)確度和直流量測(cè)能力,才能滿(mǎn)足數(shù)字信號(hào)的測(cè)試需求,以及同時(shí)測(cè)試高性能的模擬和電源管理IP。新的系統(tǒng)級(jí)封裝(SiP)及多芯片封裝(MCP)技術(shù)需要使用確定良好的晶粒(Known Good Die),因此必須在進(jìn)行晶圓篩檢測(cè)試時(shí),執(zhí)行高性能測(cè)試。納米制程產(chǎn)生了新型態(tài)的故障模式(Failure Mechanism),必須加以排除才能提升良率,這對(duì)于回收晶圓廠動(dòng)輒數(shù)十億美元的投資極為重要。經(jīng)濟(jì)有效的晶圓層級(jí)測(cè)試日趨重要,可以盡早在生產(chǎn)階段的初期,找出故障模式,進(jìn)而提高良率。
先進(jìn)的硬件具有的擴(kuò)充性
可插入惠瑞捷V93000測(cè)試頭使用的單槽模塊卡每平方公分包含的功能居業(yè)界之冠,有助于縮小測(cè)試系統(tǒng)的體積和降低成本。消費(fèi)性電子產(chǎn)品的混合信號(hào)測(cè)試解決方案包含下列模塊卡:
MB AV8(Multi-Band Audio-Video,新一代的模擬式多頻段影音標(biāo)準(zhǔn))模塊卡 - 不論數(shù)或性能等級(jí)皆可擴(kuò)充,相當(dāng)經(jīng)濟(jì)、彈性,在各種不同應(yīng)用中的適用性非常高,包括音響;基頻IQ;寬帶通訊;高畫(huà)質(zhì)及標(biāo)準(zhǔn)畫(huà)質(zhì)的電視、機(jī)頂盒、數(shù)字電視和DVD(BluRay及HD-DVD)等。
Pin Scale 400 - 測(cè)試管腳可擴(kuò)充,以滿(mǎn)足大部分消費(fèi)性IC和晶圓測(cè)試的需求,以及適用于更多種消費(fèi)類(lèi)IC的接口。入門(mén)版的速度為100 Mbps,可升級(jí)至每測(cè)試通道533+ Mbps和224 M的向量存儲(chǔ)空間。
DC Scale VI32 - 只需單一片模塊卡,即可彈性地應(yīng)對(duì)多種應(yīng)用(嵌入式閃存組件、嵌入式電源管理IC、提供的參考電壓)的需求。量測(cè)通道數(shù)可由16個(gè)擴(kuò)充到32個(gè),而且每個(gè)通道都具有測(cè)試碼(Pattern)觸發(fā)能力,可提供快的測(cè)試速度。
DC Scale DPS32 -每片模塊卡內(nèi)建32個(gè)量測(cè)通道,具有更多組件的測(cè)試能力,涵蓋更多個(gè)電源域(Power Domain),且能進(jìn)行快速的同步觸發(fā),以提高穩(wěn)定一致性和提供快的量測(cè)速度。
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