處理先進(jìn)技術(shù)板:將X光與ICT結(jié)合
出處:fanxin_bme 發(fā)布于:2007-04-29 10:26:00
在朗訊加速的制造工廠(N. Andover, MA),制造和測(cè)試藝術(shù)級(jí)的PCBA和完整的傳送系統(tǒng)。超過5000節(jié)點(diǎn)數(shù)的裝配對(duì)我們是一個(gè)關(guān)注,因?yàn)樗鼈円呀?jīng)接近我們現(xiàn)有的在線測(cè)試(ICT, in circuit test)設(shè)備的資源極限(圖一)。我們現(xiàn)在制造大約800種不同的PCBA或“節(jié)點(diǎn)”。在這800種節(jié)點(diǎn)中,大約20種在5000~6000個(gè)節(jié)點(diǎn)范圍??墒?,這個(gè)數(shù)迅速增長(zhǎng)。
新的開發(fā)項(xiàng)目要求更加復(fù)雜、更大的PCBA和更緊密的包裝。這些要求挑戰(zhàn)我們建造和測(cè)試這些單元的能力。更進(jìn)一步,具有更小元件和更高節(jié)點(diǎn)數(shù)的更大電路板可能將會(huì)繼續(xù)。例如,現(xiàn)在正在畫電路板圖的一個(gè)設(shè)計(jì),有大約116000個(gè)節(jié)點(diǎn)、超過5100個(gè)元件和超過37800個(gè)要求測(cè)試或確認(rèn)的焊接點(diǎn)。這個(gè)單元還有BGA在頂面與底面,BGA是緊接著的。使用傳統(tǒng)的針床測(cè)試這個(gè)尺寸和復(fù)雜性的板,ICT一種方法是不可能的。
在制造工藝,特別是在測(cè)試中,不斷增加的PCBA復(fù)雜性和密度不是一個(gè)新的問題。意識(shí)到的增加ICT測(cè)試夾具內(nèi)的測(cè)試針數(shù)量不是要走的方向,我們開始觀察可代替的電路確認(rèn)方法??吹矫堪偃f探針不接觸的數(shù)量,我們發(fā)現(xiàn)在5000個(gè)節(jié)點(diǎn)時(shí),許多發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤(少于31)可能是由于探針接觸問題而不是實(shí)際制造的缺陷(表一)。因此,我們著手將測(cè)試針的數(shù)量減少,而不是上升。盡管如此,我們制造工藝的品質(zhì)還是評(píng)估到整個(gè)PCBA。我們決定使用傳統(tǒng)的ICT與X射線分層法相結(jié)合是一個(gè)可行的解決方案。
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測(cè)試策略
我們整體測(cè)試策略大部分依靠邊界掃描,它提供一個(gè)部分解決方案。許多元件在ICT不能確認(rèn),許多復(fù)雜的ASIC有許多必須確認(rèn)的電源和接地引腳。這些引腳的開路可能造成長(zhǎng)期可靠性的問題。我們采用的測(cè)試策略是使用自動(dòng)X射線分層檢查系統(tǒng)確認(rèn)整個(gè)板上每個(gè)焊接點(diǎn)的可接受性。在這個(gè)策略中,生產(chǎn)PCBA都經(jīng)過X光系統(tǒng)。有缺陷的板經(jīng)過修理站進(jìn)行改正行動(dòng)和重檢查。通過檢查的PCBA進(jìn)入在線電路板測(cè)試系統(tǒng)作進(jìn)一步測(cè)試。這個(gè)策略在對(duì)現(xiàn)在生產(chǎn)中的先進(jìn)技術(shù)裝配實(shí)施的階段。設(shè)計(jì)的模型或開發(fā)/原型階段的PCBA只通過焊接點(diǎn)完整性的X光檢查,因?yàn)樵诰€測(cè)試機(jī)的測(cè)試夾具和/或測(cè)試程序通常這時(shí)還沒有。
使用生產(chǎn)X光檢查進(jìn)行模型評(píng)估,允許診斷技術(shù)員排除焊點(diǎn)有關(guān)的問題,如開路、短路、元件丟失、少錫和一些極性方向問題。這個(gè)新工藝已經(jīng)節(jié)省時(shí)間與金錢?,F(xiàn)在,為模型開發(fā)進(jìn)行的制造測(cè)試趨向于大約與生產(chǎn)運(yùn)行相同的規(guī)模。模型運(yùn)行可能在150個(gè)單元的范圍,高端PCBA的生產(chǎn)運(yùn)行在200個(gè)單元范圍。
我們的PCBA使用自動(dòng)貼片機(jī)器完成,手工連接器貼裝和手工面板裝配。使用X光和ICT技術(shù)測(cè)試完成的裝配,來確認(rèn)我們的工藝。測(cè)試程序保證正確的零件已經(jīng)以正確的位置和方向放在板上,X光決定所有的焊接點(diǎn)已經(jīng)形成。這時(shí)功能還沒有確認(rèn)。接收板的經(jīng)營(yíng)單位選擇是否做整板的功能測(cè)試。這個(gè)決定是在單個(gè)板的基礎(chǔ)上作出的。其次,PCBA安裝到架子內(nèi),架子放入框內(nèi),框與框連接。,整個(gè)系統(tǒng)功能測(cè)試,所有裝配在系統(tǒng)測(cè)試期間接受功能測(cè)試。在適當(dāng)?shù)?u>測(cè)試之后,系統(tǒng)發(fā)送到終用戶。
X光/ICT相互作用
超過5200個(gè)ICT機(jī)器節(jié)點(diǎn)限制的PCBA是不可能使用傳統(tǒng)的針床夾具ICT測(cè)試的。而且,我們沒有裝配可在在線測(cè)試機(jī)上完全測(cè)試。通常,10~15%的板的電路不能測(cè)試。例如,旁路電容和ASIC元件的電源與接地引腳對(duì)DC級(jí)的測(cè)量是不可見的。因?yàn)檫@些節(jié)點(diǎn)不能用一般的ICT測(cè)試,我們使用了X射線分層工藝。在使用X光之前,大板上的覆蓋率在60~70%之間。在測(cè)試測(cè)量中包括X光提供99%的測(cè)試覆蓋。對(duì)于通過X光系統(tǒng)確認(rèn)的焊點(diǎn)完整性的元件,我們假設(shè)遵循了前面的工序保證板上貼裝正確的元件。
另外,我們必須確認(rèn)板是結(jié)構(gòu)上連接的 - 所有焊接點(diǎn)正確連接并且沒有內(nèi)部短路或開路存在。這是由X射線檢查來完成的。
對(duì)于ASIC的ICT,相當(dāng)廣泛地使用邊界掃描,它允許我們的測(cè)試機(jī)快速地讀入ASIC的ID寄存器。如果成功,邊界掃描顯示ASIC在位置上并方向正確。前面確認(rèn)的焊點(diǎn)結(jié)構(gòu)完整性減少針床夾具需要接觸的節(jié)點(diǎn)數(shù)量。ICT將不需要切換每一個(gè)ASIC引腳來確定其是否開路。
通過使用專門的X射線分層檢查系統(tǒng),我們已經(jīng)能夠平均減少40%所要求的節(jié)點(diǎn)數(shù)量。ICT節(jié)點(diǎn)數(shù)減少,降低夾具的復(fù)雜性和成本,也得到更少的誤報(bào),這使得板更快速地通過我們的返修和制造工序。使用X射線也將ICT處的次通過合格率增加20%。使用X射線/ICT結(jié)合的測(cè)量已經(jīng)降低整體成本,改善可靠性和輸出產(chǎn)品的品質(zhì)。允許產(chǎn)品更快的出貨。
X射線/ICT測(cè)量的未來
現(xiàn)在,在我們生產(chǎn)線上只有一少部分的板超過5200個(gè)節(jié)點(diǎn)的ICT限制。我們預(yù)計(jì)在不久的將來該比例會(huì)穩(wěn)定增長(zhǎng)。
還有,隨著我們?nèi)〉媒?jīng)驗(yàn)和增加X射線的能力,我們可能將我們新的測(cè)量應(yīng)用到節(jié)點(diǎn)數(shù)低至2500個(gè)節(jié)點(diǎn)的PCBA。因?yàn)楝F(xiàn)在存在于4000~5000個(gè)節(jié)點(diǎn)范圍的板的合格率問題,這些問題是由于探針接觸問題而不是實(shí)際裝配問題,我們預(yù)計(jì)使用X射線/ICT相結(jié)合的測(cè)量可以看到一個(gè)改善。
早在九十年代,我們決定標(biāo)準(zhǔn)化ICT系統(tǒng)的選擇,我們的測(cè)試工程師可作三種配制,而不是一種開口測(cè)量。我們分1900個(gè)節(jié)點(diǎn)、3900個(gè)節(jié)點(diǎn)和5200個(gè)節(jié)點(diǎn)的配制?,F(xiàn)在,我們已經(jīng)升級(jí)幾乎每一個(gè)測(cè)試達(dá)到3900或5200個(gè)節(jié)點(diǎn)的設(shè)備,傾向于5200個(gè)節(jié)點(diǎn)的系統(tǒng)。
X射線分層法與ICT技術(shù)相結(jié)合的進(jìn)一步使用是理想的,因?yàn)槊恳粋€(gè)技術(shù)都補(bǔ)償另一技術(shù)的缺點(diǎn)。X射線主要集中在焊點(diǎn)的質(zhì)量。它也可確認(rèn)元件是否存在,但不能確認(rèn)元件是否正確,方向和數(shù)值是否正確。另一方面,ICT可決定元件的方向和數(shù)值但不能決定焊接點(diǎn)是否可接受,特別是在大的表面貼裝元件包裝下面。
在不久將來,我們希望在看到電路原理圖時(shí)馬上可以決定對(duì)新的電路設(shè)計(jì)的測(cè)試測(cè)量。這時(shí),對(duì)高節(jié)點(diǎn)數(shù)的原理圖,我們可決定哪些節(jié)點(diǎn)應(yīng)該用ICT,哪一些節(jié)點(diǎn)應(yīng)該用X射線?,F(xiàn)在,我們直到一個(gè)設(shè)計(jì)在開發(fā)過程中相對(duì)清楚時(shí)才可作出決定。
理想地,軟件可產(chǎn)生X光和在線測(cè)試技術(shù),ICT測(cè)試程序應(yīng)該相當(dāng)?shù)匦 ?u>測(cè)試測(cè)量信息可以放在計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)(CAD)布局系統(tǒng),包括較少數(shù)量的要求測(cè)試焊盤特性的節(jié)點(diǎn)。測(cè)試焊盤減少的一個(gè)附加優(yōu)點(diǎn)是板面資源節(jié)省,使得布局任務(wù)更加容易。針床夾具也應(yīng)該隨著接觸探針的減少而簡(jiǎn)化;同樣減少測(cè)試針與其目標(biāo)接觸不良的可能性。簡(jiǎn)而言之,用復(fù)雜性更低的程序與夾具可達(dá)到更好的缺陷覆蓋率。
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