IC參數(shù)成品率全局優(yōu)化的映射距離化算法
出處：bg4alf 發(fā)布于：2007-04-29 10:05:10
| 作者： | 荊明娥 李康 王俊平 郝躍 |
| 關(guān)鍵詞： | 參數(shù)成品率；映射距離；均勻設(shè)計；k近鄰密度估計 |
| 摘要： | [pdf全文] |
| 提出了一種新的集成電路參數(shù)成品率的全局優(yōu)化算法——映射距離化算法．該算法采用了均勻設(shè)計與映射距離的耦合優(yōu)化，每次迭代模擬次數(shù)很少，優(yōu)化過程明顯加速．另外，給出了一種粗略估計空間點集均勻性的方法——k近鄰密度估計，在有效時間內(nèi)判斷一個空間點集的均勻性．模擬結(jié)果表明，該算法對集成電路進行快速成品率優(yōu)化設(shè)計及提高電路設(shè)計的穩(wěn)定性具有較好的應用價值． | |
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