嵌入式存儲(chǔ)技術(shù)在SoC設(shè)計(jì)的應(yīng)用
出處:運(yùn)用 發(fā)布于:2007-11-30 15:32:52
大容量嵌入式存儲(chǔ)器給SoC帶來(lái)了諸如改善帶寬和降低功耗等只能通過(guò)采用嵌入技術(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)的各種好處。SoC中內(nèi)嵌DRAM和/或大容量SRAM模塊是否切合實(shí)際并取得成功主要依賴于制造工藝。高度可制造的存儲(chǔ)器結(jié)構(gòu)可以解決影響SoC設(shè)計(jì)的成本、上市時(shí)間和風(fēng)險(xiǎn)問(wèn)題。
雖然SRAM一直是SoC中的主要部件,但在過(guò)去的幾年,單片SoC中SRAM塊的大小和數(shù)量開始猛增。帶150個(gè)SRAM塊的芯片并不稀奇,一些內(nèi)核容量甚至達(dá)到1Mb~8Mb。
與此同時(shí),DRAM可
從制造的角度看,大塊和小塊存儲(chǔ)器的制造難度差不多。不過(guò),在大存儲(chǔ)器和小存儲(chǔ)器之間的權(quán)衡折衷要考慮對(duì)性能、芯片面積的一些影響。這些權(quán)衡不那么簡(jiǎn)單,所以如果用戶要在使用較少的大塊存儲(chǔ)器與使用較多的小塊存儲(chǔ)器之間做選擇的話,咨詢一下半導(dǎo)體供應(yīng)商的應(yīng)用工程師。
甚至在制造之前,大的存儲(chǔ)器塊必須很好滿足后端布局布線的要求。目前在超大塊的存儲(chǔ)器頂層布線的能力已經(jīng)使得它們對(duì)于布局布線環(huán)境來(lái)說(shuō)更加友好了。
帶公共BIST模塊的測(cè)試方案也已經(jīng)變得很友好。如今,用戶可以在眾多面向嵌入式存儲(chǔ)器測(cè)試方案中進(jìn)行選擇,有些方案需要晶圓級(jí)存儲(chǔ)器測(cè)試器,而有些非常依賴于BIST結(jié)構(gòu)。針對(duì)給定設(shè)計(jì)選擇的測(cè)試方案,需要用戶和硅片供應(yīng)商一起詳細(xì)討論。
大的DRAM模塊變得更加“友好”的另一個(gè)方面是其功耗。從180納米向130納米轉(zhuǎn)換時(shí)功耗已經(jīng)得到極大的改善。在130納米工藝下,一個(gè)分頁(yè)寫模式的DRAM功耗只有180納米工藝下的34%。待機(jī)功耗也降到了180納米下的24%,而停止工作時(shí)的功耗只有180納米下的12%。功耗的減少有助于推動(dòng)大的嵌入式DRAM在便攜式攝像機(jī)和手機(jī)SoC中的應(yīng)用。
嵌入式存儲(chǔ)器的繁榮完全歸功于新的集成工藝技術(shù)的成功,開發(fā)這些工藝技術(shù)的初始階段就考慮了大存儲(chǔ)器。工藝一代比一代更加精良,保證了含有SRAM或DRAM芯片的高成品率。僅僅在這個(gè)層面上,就可以預(yù)言ASIC廠商能提供具有成本效益的嵌入式存儲(chǔ)器。
基于這個(gè)原因,用戶可以預(yù)計(jì)SRAM和內(nèi)嵌溝道型DRAM將是未來(lái)SoC的流行選擇。除了成本的降低,采用這類存儲(chǔ)器可以把上市時(shí)間和設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)降到。要得到這些好處,用戶要注意的是必須有效利用其工藝供應(yīng)商的存儲(chǔ)器IP,因?yàn)橹圃旃に囈Y(jié)合專門的存儲(chǔ)器結(jié)構(gòu)才能發(fā)揮作用。
針對(duì)非易失性存儲(chǔ)要求,東芝公司已經(jīng)發(fā)現(xiàn),在一個(gè)堆疊裸片封裝中將SoC和現(xiàn)成的閃存結(jié)合在一起可以工作得非常好,而且成本較低。另外,SRAM對(duì)于小的、高速的SoC存儲(chǔ)器來(lái)說(shuō)是理想選擇,而嵌入式溝道型DRAM適合于滿足大的存儲(chǔ)塊需要。
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