美國俄亥俄州克利夫蘭市2007年4月10日訊——新興測量需求解決方案的美國吉時利（Keithley）儀器公司（NYSE代碼：KEI）日前發(fā)布獲獎產(chǎn)品——4200-SCS半導體特征分析系統(tǒng)的硬件和軟件升級版本，本次升級引入4200-SCS新一代脈沖測試功能。實驗室系統(tǒng)的應用將集成直流和脈沖測量功能與完整的應用工具包結合，為用戶提供完整解決方案。功能增強的脈沖發(fā)生器插卡和新型的示波器插卡，為半導體技術生產(chǎn)和研究者們提供強大新功能。新升級版本不僅增強了吉時利4200-PIV工具包功能，還提供兩種新版應用解決方案，將4200-SCS通用直流與脈沖測量功能進一步擴展到新領域，例如Flash存儲器測試、高功率射頻器件測試以及先進半導體材料的脈沖測試等。
功能增強的測試硬件

　　吉時利（Keithley）新型解決方案增強原有的硬件性能， 其采用的新型脈沖發(fā)生器插卡4205-PG2具備多種新功能，例如已申請技術的Segment ARBTM模式，幫助用戶通過簡單線段即能輕松產(chǎn)生復雜波形。Segment ARB功能能夠產(chǎn)生基本的脈沖調(diào)制技術所無法產(chǎn)生的復雜波形。該功能非常適于Flash

　　此外，新增電源擴展4200-SCS系統(tǒng)所允許的配置方案：一個4200-SCS機架多實現(xiàn)支持四個獨立脈沖發(fā)生器卡。由于每個4200-PG2具有兩個通道，因此4200-SCS系統(tǒng)每個機架多可支持8個脈沖通道。同時，集成的4205-PG2為外部觸發(fā)源提供一個觸發(fā)輸入信號，因此每個機架內(nèi)的多個脈沖卡實現(xiàn)在10納秒內(nèi)完成同步。

　　應對前沿技術挑戰(zhàn)的應用解決方案

　　吉時利（Keithley）本次發(fā)布的應用解決方案建立在功能增強的4205-PG2脈沖發(fā)生器卡和新版應用軟件基礎之上。4200-PIV-Q工具包針對由III-V族半導體材料和LDMOS工藝制成的射頻器件和高功率FET進行脈沖I-V測試和信號分析而特別設計。4200-PIV-Q工具簡單易用，非常靈活，具有±38V電壓、800mA電流和30W功率的脈沖功能，這些參數(shù)設計完全滿足高功率應用需求。4200-PIV-Q主要特征是支持脈沖寬度從500ns到直流的靜點（即Q點）測試（能夠從非零空閑狀態(tài)產(chǎn)生脈沖）。

　　新增應用解決方案——4200-FLASH工具包為功能強大的黑盒式Flash存儲器測試解決方案，實現(xiàn)針對Flash存儲器的三種重要測試：特征分析、耐久性測試和干擾測試。該應用工具包自動實現(xiàn)直流測試和脈沖測試的切換，無需外部開關。其內(nèi)置高耐久性輸出繼電器，摒棄大多數(shù)Flash測試采用的外部固態(tài)繼電器，從而加快Flash存儲器的壽命測試，提高測試效率和易用性。此外，4200-FLASH工具包內(nèi)提供的專用代碼和項目簡化Flash存儲器測試的配置和啟動過程。

　　新增的4200-PIV-A工具包，為吉時利（Keithley）現(xiàn)有獲獎工具包4200-PIV的增強版，專門針對前沿的CMOS器件特征分析而量身定制，其增強功能包括改進的低至100nA的低電流分辨率、結合了脈沖測試與直流測試的友好操作界面和直觀的圖形界面。

　　連續(xù)的軟件升級

　　KTEI（Keithley Test Environment Interactive，吉時利交互式測試環(huán)境）的版本V6.2版增強多種軟件功能， 包括采用以太網(wǎng)連接，遠程調(diào)用脈沖發(fā)生器和示波硬件，在UTM（User Test Module，用戶測試模塊）中遠程控制板級測試，這些新功能改進了原來通過外部PC控制4200-SCS的方式。此外，另一項新功能允許用戶在多種常規(guī)應用中通過友好的GUI界面與單個的UTM進行交互，包括一個開關矩陣控制器和PIV測試。KTEI V6.2版還可作為獨立軟件工具包安裝在用戶PC機，用于離線測試生成和測試后期數(shù)據(jù)分析。現(xiàn)有客戶能夠很方便地升級到新版應用解決方案，保護投資，減少固定設備建設費用，從而降低測試總成本。