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使用電壓比較器LM324組成的電平測(cè)試電路
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如圖所示為使用電壓比較器LM324組成的測(cè)試電路。其特點(diǎn)是便于檢測(cè)閾值電平的調(diào)整,可測(cè)試DTL、TTL、CMOS等多種邏輯電平。由電壓比較器的原理可知:當(dāng)同相輸入端(正端)電壓高于反相輸入端(負(fù)端)電壓時(shí),比較器輸出高電平;反之,則輸出低電平。RP為比較電壓調(diào)整電位器,當(dāng)UIN高于設(shè)置電壓時(shí),7腳輸出高電平,顯示1,同時(shí)小數(shù)點(diǎn)dp發(fā)光;UIN低于設(shè)置電壓時(shí),1腳輸出高電平顯示0,但小數(shù)點(diǎn)不亮;當(dāng)檢測(cè)到高、低變化的時(shí)鐘脈沖時(shí),若頻率很低,可見(jiàn)0、1交替顯示。頻率較高時(shí),0、1變化非常快,所以只見(jiàn)顯示為0,同時(shí)小數(shù)點(diǎn)dp發(fā)光,這種“帶點(diǎn)的零”即可表示檢測(cè)的是時(shí)鐘脈沖。
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